講演名 | 2004/10/1 Assessment of Optical gain in Si-Ge nanocrystals Embedded in SiO_2 films , |
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抄録(和) | |
抄録(英) | Assessment of optical gain in as-grown SiO_2 thin film containing silicon (Si) and Germanium (Ge) nanocrystals, grown by rf-sputtering, by applying the variable stripe length (VSL) method, is reported. The optical gain in the thin film is demonstrated at 400 nm, at which the film shows photoluminescence peak. The analysis of the experimental data, based on one dimensional amplifier model, extracts the gain value of 4.3 cm^<-1> for a 738 nm thick film, when excited by a continuous wave 325 nm wavelength He-Cd laser. |
キーワード(和) | |
キーワード(英) | Silicon Nanocrystals / Germanium Nanocrystals / Optical gain in thin films |
資料番号 | OME2004-76,OPE2004-139 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | OME |
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開催期間 | 2004/10/1(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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本文の言語 | ENG |
タイトル(和) | |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Assessment of Optical gain in Si-Ge nanocrystals Embedded in SiO_2 films |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | / Silicon Nanocrystals |
第 1 著者 氏名(和/英) | / Chitrarekha CHAUDHARI |
第 1 著者 所属(和/英) | Satellite Venture Business Laboratory, Gunma University |
発表年月日 | 2004/10/1 |
資料番号 | OME2004-76,OPE2004-139 |
巻番号(vol) | vol.104 |
号番号(no) | 332 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |