| 講演名 | 2005-06-27 画像の局所的な傾きを用いた高精度のWaDi補間法(画像処理(1), 信号処理, LSI, 及び一般) 袁 帥, 阿部 正英, 田口 亮, 川又 政征, |
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| 抄録(和) | ディジタル画像では取得システムによってそのサイズが決定してしまうため, 画像を取得時より大きいサイズにする場合は画像の補間処理が必要である.本稿では, 線形補間に基づく画像のWaDi補間法に対してwarped distanceの新しい導出方法を提案する.提案法はwarped distanceの導出過程に画像の局所的な非対称性と局所的な傾きをともに考慮して, 従来の導出方法より画像の情報を有効に利用することが出来る.実験を通じて提案法は従来のWaDi補間法に比べて高画質な補間した画像を得られることを明らかにする. |
| 抄録(英) | In this paper, we propose a new computational method of the warped distance (WaDi) for digital image interpolation. The conventional WaDi algorithm only uses the local asymmetry features of image edges to compute the WaDi and then uses the computed WaDi in place of the interpolation operator in the linear interpolations. The local gradient features are one kind of the important features of image edges as well as the local asymmetry features. In this paper, we adopt both the local asymmetry features and the local gradient features in the WaDi computation. Experimental results show that the proposed method can obtain high accuracy interpolated images. |
| キーワード(和) | 補間法 / 局所的な非対称性 / 局所的な傾き |
| キーワード(英) | interpolation / warped distance / local asymmetry feature / local gradient feature |
| 資料番号 | CAS2005-9,VLD2005-20,SIP2005-33 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2005/6/20(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | 画像の局所的な傾きを用いた高精度のWaDi補間法(画像処理(1), 信号処理, LSI, 及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | High Accuracy WaDi Image Interpolation with Local Gradient Features |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 補間法 / interpolation |
| キーワード(2)（和/英） | 局所的な非対称性 / warped distance |
| キーワード(3)（和/英） | 局所的な傾き / local asymmetry feature |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 袁 帥 / Shuai YUAN |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Tohoku University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 阿部 正英 / Masahide ABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Tohoku University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 田口 亮 / Akira TAGUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 武蔵工業大学電気電子工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Musashi Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 川又 政征 / Masayuki KAWAMATA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Tohoku University |
| 発表年月日 | 2005-06-27 |
| 資料番号 | CAS2005-9,VLD2005-20,SIP2005-33 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 147 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |