| 講演名 | 2004/11/25 畳込み型テスト応答圧縮器における誤り見逃し率の解析(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 新井 雅之, 福本 聡, 岩崎 一彦, |
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| 抄録(和) | 畳込み型テスト応答圧縮器は,不定値を含むテスト応答圧縮に対して有効な技術である.欠点の一つとして,誤り見逃しが挙げられる.すなわち,テスト応答に現れる複数の誤りが互いにマスクされ,検出不可能となる場合が存在する.本稿では,畳込み圧縮器における誤り見逃し率の解析的な評価について議論する.まず,双対符号の重み分布をもとにした計算方法について述べる.次に,4重および6重誤り見逃し率を高速に導出する手法にちいて示す.数値例より,解析結果がモンテカルロシミュレーションによって得られた結果とほぼ等しいことを示す.また,一定の誤り発生率のもとで,誤り見逃し率が極大値を持つことを示す. |
| 抄録(英) | Convolutional compactors offer a promising technique of compacting test responses that include unknown values. One drawback of this compaction technique is error masking, i.e., some errors appearing in the test responses cannot be detected due to mutual cancellation. In this work, we theoretically analyze error-masking probability. First, we apply weight distributions of binary linear error-correcting codes to derive the error-masking probability. We then present a fast calculation scheme for 4- and 6-error-masking probabilities. Numerical examples reveal that they are about the same as those obtained by Monte-Carlo simulations. We also found that the masking probability as a function of test length has a peak value for constant error probabilities, such as 0.01, and 0.001. |
| キーワード(和) | 畳込み圧縮器 / テスト応答圧縮器 / 誤り見逃し率 / 双対符号 / 重み分布 |
| キーワード(英) | Convolutional compactor / test response compactor / error masking rate / dual code / weight distribution |
| 資料番号 | VLD2004-75,ICD2004-161,DC2004-61 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2004/11/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | 畳込み型テスト応答圧縮器における誤り見逃し率の解析(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis on Error Masking Rate for Convolutional Compactors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 畳込み圧縮器 / Convolutional compactor |
| キーワード(2)（和/英） | テスト応答圧縮器 / test response compactor |
| キーワード(3)（和/英） | 誤り見逃し率 / error masking rate |
| キーワード(4)（和/英） | 双対符号 / dual code |
| キーワード(5)（和/英） | 重み分布 / weight distribution |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki ARAI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 福本 聡 / Satoshi FUKUMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko IWASAKI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2004/11/25 |
| 資料番号 | VLD2004-75,ICD2004-161,DC2004-61 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 478 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |