| 講演名 | 2004/11/25 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三, |
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| 抄録(和) | 半導体の微細化に伴って多重縮退故障に対する診断法の開発が望まれている.また,最近のBIST環境に適応可能な故障診断法の開発も望まれている.本稿では,BIST環境における不確かなテスト集合による多重縮退故障に対する故障診断法を提案する.提案する故障診断法の特徴は,1)検出テストによって検出できる故障数が異なることに着目し,検出故障数が少ないテストによって検出された故障を故障候補として推定すること,2)推定された故障候補から非検出テストでN回以上検出される故障を削除すること,および3)非検出テストおよび検出テストにおける故障候補の検出回数,および回路の構造的な情報に基づく評価に従って故障候補の順位付けを行うことである.最後に,提案手法をISCASベンチマーク回路に適用した評価実験結果を示す. |
| 抄録(英) | With the scaling of LSI feature size and increasing complexity of LSI, it is necessary to develop a method for diagnosing multiple stuck-at faults. Recently, the fault diagnosis under Built-in Self Test (BIST) environment is demanded because BIST is as effective in testing. However, the fault diagnosis under BIST environment is more difficult because only limited information for making the test set for diagnosis is available in highly compacted signatures. Therefore the detecting test set that is identified in BIST session includes un-detecting tests. In this paper, we propose a method for diagnosing multiple stuck-at faults under BIST environment. The fundamental features of the method are 1) to deduce candidate fautls in recognizing that the number of detected faults are difference among tests in the ambigous detecting test set, 2) to remove the candidate faults that are detected N times by un-detecting tests to reduce the number of candidate faults, and 3) to rank the candidate faults based on the information about detection times in the detecting tests and the un-detecting tests and the information about circuit structure. Finally we evaluate the effectiveness of the proposed method by experiments- conducted on the ISCAS benchmark circuits. |
| キーワード(和) | 組込み自己テスト / 故障診断 / 多重縮退故障 / 不確かなテスト集合 |
| キーワード(英) | Built-in Self Test (BIST) / fault diagnosis / multiple stuck-at faults / ambiguous test set |
| 資料番号 | VLD2004-69,ICD2004-155,DC2004-55 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2004/11/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnosis for Multiple Stuck-at Faults by Ambiguous Test Set |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-in Self Test (BIST) |
| キーワード(2)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | 多重縮退故障 / multiple stuck-at faults |
| キーワード(4)（和/英） | 不確かなテスト集合 / ambiguous test set |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山本 幸大 / Yukihiro YAMAMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering^ Ehime University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学工学部情報工学科 Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学工学部情報工学科 Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高松 雄三 / Yuzo TAKAMATSU |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学工学部情報工学科 Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University |
| 発表年月日 | 2004/11/25 |
| 資料番号 | VLD2004-69,ICD2004-155,DC2004-55 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 478 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |