講演名 2004/11/24
VLSI設計自動化技術開発の過去、現在、将来(コデザイン)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
後藤 敏,
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抄録(和) 電子情報通信学会フェロー記念講演会の予稿である。VLSI設計の自動化は1970年代から研究が開始され、過去30年間あまり、レイアウト設計、論理設計,機能設計、テスト設計の各分野で大きな 発展を遂げてきた。歴史を振り返り.今後何をすべきかに関して意見を述べる。
抄録(英) This manuscript is written for the invited presentation of IEICE Fellow nomination.. VLSI Deign Automation Technologies Have been developed for more than 30 years in the area of layout design, logic design, functional design and test design since 1970. .This report will describe what we have to do in future by looking back of the history of DA technologies.
キーワード(和) VLSI設計 / 自動設計 / システムLSI / レイアウト設計 / 論理設計 / テスト設計
キーワード(英) VLSI design / Design automation / System LSI / Layout design / Logic Design / Test design
資料番号 VLD2004-59,ICD2004-145,DC2004-45,CPSY2004-30
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2004/11/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) VLSI設計自動化技術開発の過去、現在、将来(コデザイン)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
サブタイトル(和)
タイトル(英) VLSI design automation; Past, Present, and Fututure
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) VLSI設計 / VLSI design
キーワード(2)(和/英) 自動設計 / Design automation
キーワード(3)(和/英) システムLSI / System LSI
キーワード(4)(和/英) レイアウト設計 / Layout design
キーワード(5)(和/英) 論理設計 / Logic Design
キーワード(6)(和/英) テスト設計 / Test design
第 1 著者 氏名(和/英) 後藤 敏 / Satoshi GOTO
第 1 著者 所属(和/英) 早稲田大学大学院情報生産システム研究科
Graduate School of IPS, Waseda University
発表年月日 2004/11/24
資料番号 VLD2004-59,ICD2004-145,DC2004-45,CPSY2004-30
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 477
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日