| 講演名 | 2004/11/24 半導体試験・測定システム : 平成15年度特許出願技術動向調査(コデザイン)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 特許庁特許審査第三部電子素材加工, |
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| 抄録(和) | 価格競争力を支える半導体試験・測定システムを中心とした技術開発戦略や産業財産戦略をグローバルな視点から検討することの重要性はきわめて高い。半導体試験・測定システムに関し、特許情報を中心に、市場動向、技術開発動向、国際競争力、将来展望について、調査分析を実施した。その調査結果について報告を行う。 |
| 抄録(英) | It is very important to consider both strategies, R&D and intellectual property from the global viewpoint, relating to semiconductor testing system which leads price competitiveness. We mainly investigated patent database and analyzed trends in markets, technological development and international competitiveness, and forecasts in the field of semiconductor testing system. We will report the investigation result. |
| キーワード(和) | 半導体試験 / 測定システム / 知的財産権 / 特許出願 / 技術動向 |
| キーワード(英) | semiconductor testing system / intellectual property / patent application / technological trend |
| 資料番号 | VLD2004-58,ICD2004-144,DC2004-44,CPSY2004-29 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2004/11/24(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 半導体試験・測定システム : 平成15年度特許出願技術動向調査(コデザイン)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Semiconductor testing system survey on technological trends of patent applications : fiscal year 2003 |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体試験 / semiconductor testing system |
| キーワード(2)（和/英） | 測定システム / intellectual property |
| キーワード(3)（和/英） | 知的財産権 / patent application |
| キーワード(4)（和/英） | 特許出願 / technological trend |
| キーワード(5)（和/英） | 技術動向 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 特許庁特許審査第三部電子素材加工 / Patent Office Electrical Components Processing Div. Third Patent Examination Dept. Japan |
| 第 1 著者 所属（和/英） | |
| 発表年月日 | 2004/11/24 |
| 資料番号 | VLD2004-58,ICD2004-144,DC2004-44,CPSY2004-29 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 477 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |