| 講演名 | 2005-05-27 衛星搭載用半導体メモリ装置に対するシングルイベント効果の実測(リモートセンシング及び一般) 笹田 武志, 市川 愉, 金井 俊樹, |
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| 抄録(和) | 宇宙航空研究開発機構(JAXA)では, 衛星搭載用半導体メモリ装置内で使用する民生メモリ素子の特性評価および軌道上実証のため, 2002年2月に民生部品・コンポーネント実証衛星(つばさ: MDS-1)を打ち上げた.MDS-1は静止トランスファー軌道のため, 強い放射線帯を毎周回通過する.本実験にて, 大量の64Mbit DRAMサンプルで発生するシングルイベント効果(SEE)およびトータルドーズ効果を長期間に渡り実測した.その結果, 実環境下でのSEU発生率を算出でき, そのエラーに対する2種類の誤り検出・訂正機能を確認した.本稿ではMDS-1搭載の半導体メモリ装置(SSR)ミッションにて実測したSEEについて述べる. |
| 抄録(英) | To evaluate the characteristics of commercial memory devices, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) launched a Solid State Recorder (SSR) on the Mission Demonstration test Satellite-1 (MDS-1 or "Tsubasa") into geo-stationary transfer orbit (GTO) in February 2002. Passing through the Van Allen belt exposed MDS-1 to severe radioactive rays in every orbit. This flight experiment measured the rate of Single-Event-Upsets (SEUs) on a large number of stacked 64Mbit Dynamic Random Access Memory (DRAM), and the distribution of Total Ionizing Dose (TID) effects. As a result, we can calculate the actual SEU rate, and we confirmed the capabilities of two types of on-the-fly Error Detection and Correction (EDAC) mechanisms. This paper presents the results of the space experiment of SSR, especially focusing on SEU analysis. |
| キーワード(和) | つばさ / メモリ / シングルイベント効果 |
| キーワード(英) | TSUBASA / MDS-1 / memory / DRAM / EDAC / ECC / SEU / SEE |
| 資料番号 | SANE2005-9 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 2005/5/20(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 衛星搭載用半導体メモリ装置に対するシングルイベント効果の実測(リモートセンシング及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement of Single Event Effects on Solid State Memory for Spacecraft |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | つばさ / TSUBASA |
| キーワード(2)（和/英） | メモリ / MDS-1 |
| キーワード(3)（和/英） | シングルイベント効果 / memory |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 笹田 武志 / Takeshi SASADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 宇宙航空研究開発機構 Japan Aerospace Exploration Agency Tsukuba Space Center |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 市川 愉 / Satoshi ICHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 宇宙航空研究開発機構 Japan Aerospace Exploration Agency Tsukuba Space Center |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 金井 俊樹 / Toshiki KANAI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 宇宙技術開発株式会社 Space Engineering Development Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2005-05-27 |
| 資料番号 | SANE2005-9 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 102 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |