| 講演名 | 2005-05-27 リファレンスクロックを必要としないプログラム可能なオンチップジッタ測定回路(VLSI一般(ISSCC2005特集)) 一山 清隆, 石田 雅裕, 山口 隆弘, ソーマ マニ, 須田 昌克, 岡安 俊幸, 渡邊 大輔, 山本 和弘, |
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| 抄録(和) | リファレンスクロックを必要としない新しいオンチップジッタ測定回路を提案する.提案回路は, 可変遅延回路, インターリーブ方式の位相周波数検出器, チャージポンプで構成される.0.18μm CMOSプロセスで試作したプロトタイプ回路の性能評価結果を示す.提案手法は, 従来法に比べ線形性がよく, 精確なジッタ測定が可能である.また, インターリーブ方式の位相周波数検出器により, 測定回路内部で発生するジッタを低減できる. |
| 抄録(英) | A new on-chip jitter measurement circuit, which does not require a reference clock, is proposed. It consists of a combination of a programmable delay line, a phase frequency detector, and a programmable charge pump. A prototype circuit fabricated in 0.18-μm CMOS process is demonstrated. The circuit has a good linearity, and achieves an accurate jitter measurement. An interleaving-PFD reduces an intrinsic jitter of the measurement circuit. |
| キーワード(和) | タイミングジッタ / 周期ジッタ / 可変遅延回路 / 位相周波数検出器 / チャージポンプ |
| キーワード(英) | Timing Jitter / Period Jitter / Programmable Delay / Phase frequency Detector / Charge Pump |
| 資料番号 | ICD2005-38 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2005/5/20(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リファレンスクロックを必要としないプログラム可能なオンチップジッタ測定回路(VLSI一般(ISSCC2005特集)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Programmable On-Chip Timing Jitter Measurement Circuit without Reference Clock |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | タイミングジッタ / Timing Jitter |
| キーワード(2)（和/英） | 周期ジッタ / Period Jitter |
| キーワード(3)（和/英） | 可変遅延回路 / Programmable Delay |
| キーワード(4)（和/英） | 位相周波数検出器 / Phase frequency Detector |
| キーワード(5)（和/英） | チャージポンプ / Charge Pump |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 一山 清隆 / Kiyotaka ICHIYAMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト研究所 Advantest Laboratories, Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石田 雅裕 / Masahiro ISHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト研究所 Advantest Laboratories, Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山口 隆弘 / Takahiro YAMAGUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト研究所 Advantest Laboratories, Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | ソーマ マニ / Mani SOMA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | ワシントン大学電子工学部 University of Washington, Department of Electrical Engineering |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 須田 昌克 / Masakatsu SUDA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 岡安 俊幸 / Toshiyuki OKAYASU |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 渡邊 大輔 / Daisuke WATANABE |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 山本 和弘 / Kazuhiro YAMAMOTO |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 発表年月日 | 2005-05-27 |
| 資料番号 | ICD2005-38 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 96 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |