| 講演名 | 2005-01-28 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) 船津 幸永, 住友 洋志, 重田 一樹, 石山 敏夫, |
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| 抄録(和) | 近年の微細化・大規模化の進んだLSIにおいて、CADベースの故障診断技術は、故障解析を容易化できる技術として非常に重要な役割を担うようになってきた。我々のグループは、単一故障における様々な故障モード(縮退故障、オープン故障、ブリッジ故障)における故障診断手法を提案してきた。今回、多重故障において、故障伝播経路を分離・グループ分けして診断する手法を検討し、実製品に適用した結果が得られたので報告する。 |
| 抄録(英) | For recent highly integrated and shrunk LSIs, CAD-based fault diagnosis technology which supports physical failure analysis has become more impotant, . Our group has proposed and developed fault diagnosis technique of several types of a single fault (stuck-at, open, and bridging fault). In this paper, we report a fault diagnosis method for multiple faults, The method classifies fault effect propagation paths in a circuit and its results. |
| キーワード(和) | 故障診断 / 論理回路 / 多重故障 / 経路追跡 / 順序回路 |
| キーワード(英) | fault diagnosis / logic circuit / multi fault / path trace / sequential circuit |
| 資料番号 | CPM2004-174,ICD2004-219 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2005/1/21(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of Multiple Fault Diagnosis Based on Path-Tracing for Logic LSIs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | 論理回路 / logic circuit |
| キーワード(3)（和/英） | 多重故障 / multi fault |
| キーワード(4)（和/英） | 経路追跡 / path trace |
| キーワード(5)（和/英） | 順序回路 / sequential circuit |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 船津 幸永 / Yukihisa Funatsu |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス(株)基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部 Test Analysis Technology Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 住友 洋志 / Hiroshi Sumitomo |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス(株)基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部 Test Analysis Technology Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 重田 一樹 / Kazuki Shigeta |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス(株)基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部 Test Analysis Technology Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石山 敏夫 / Toshio Ishiyama |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス(株)基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部 Test Analysis Technology Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 発表年月日 | 2005-01-28 |
| 資料番号 | CPM2004-174,ICD2004-219 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 629 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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