| 講演名 | 2004-12-16 高速シリアルリンクのためのアットスピード・セルフテストLSI(回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ)) 佐々木 守, 石松 賢治, 金沢 守道, 神立 信一, 長畑 博之, |
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| 抄録(和) | PCI-Expressなどの高速シリアルリンクでは,at-speedでのICテストが必要な場合,数GHzの信号が取り扱えるハイエンドICテスタが必要である.しかし,テストコストの増加は,製品価格の増加につながるため,汎用品への高速シリアルリンクの導入のためには,低コストなテストシステムの開発は重要である.本発表では,高速シリアルリンクのat-speed信号をテストできるセルフテスト手法を提案し,試作チップの設計およびローエンドテスタによるICテストを実行して,その有用性を示す. |
| 抄録(英) | In order to carry out at-speed IC test for high-speed serial links, such as PCI-Express, high-end IC tester is required, which can deal with the signal over several GHz. Development of a low-cost test system is important for applying widely the high-speed serial link to consumer products, since the increase in test cost results in high product price. In this presentation, we propose at-speed self-test technique for the high-speed serial link. Test chip is fabricated and IC tests are carried out by the low-end tester in order to confirm the validity of the low-cost test system. |
| キーワード(和) | 高速シリアルリンク / セルフテスト / at-speed / ループバック / BIST / BOST |
| キーワード(英) | High-speed serial link / self-test / at-speed / loop-back / BIST / BOST |
| 資料番号 | ICD2004-189 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2004/12/9(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高速シリアルリンクのためのアットスピード・セルフテストLSI(回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | At-Speed Self-Test LSI for High-Speed Serial Link |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高速シリアルリンク / High-speed serial link |
| キーワード(2)（和/英） | セルフテスト / self-test |
| キーワード(3)（和/英） | at-speed / at-speed |
| キーワード(4)（和/英） | ループバック / loop-back |
| キーワード(5)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(6)（和/英） | BOST / BOST |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 佐々木 守 / Mamoru SASAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島大学大学院先端物質科学研究科 Advanced Science of Matter, Hiroshima University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石松 賢治 / Kenji ISHIMATU |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 熊本県工業技術センター Kumamoto Industrial Research Institute |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 金沢 守道 / Morimichi KANAZAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | ルネサステクノロジ熊本工場 Renesas Technology Kumamoto Factory |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 神立 信一 / Shinichi JINTATE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | ルネサステクノロジ熊本工場 Renesas Technology Kumamoto Factory |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 長畑 博之 / Hiroyuki NAGAHATA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | サンユー工業 Sanyu Electric, INC |
| 発表年月日 | 2004-12-16 |
| 資料番号 | ICD2004-189 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 521 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |