講演名 2004/11/25
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 本稿では,不確かな検出テスト集合と非検出テスト集合を用いて組込み自己テスト(BIST)環境におけるブリッジ故障診断法について述べる.BIST環境下においては,検査結果として得られる出力応答が高圧縮で奉るため,被検査回路の故障を検出するテスト(検出テスト)のみで構成されたテスト集合と検出できないテスト(非検出テスト)のみで構成されるテスト集合に分類することは容易ではなく,検出テストの中に非検出テストが含まれる場合がある.そこで,本研究では,ブリッジ故障を対象に検出テストと非検出テストによって構成された不確かな検出テスト集合と非検出テストのみによって構成される非検出テスト集合で故障候補を推定する診断法を提案する.
抄録(英) Fault diagnosis under BIST environment is more difficult because highly compacted signatures make it difficult to obtain the information necessary for diagnosis. Therefore the failing test set that is identified in BIST session includes accidentally non-failing tests. We call the test set that includes failing tests and non-failing tests an "ambiguous detecting test set". In this paper, we propose a method for diagnosing bridging faults assuming that an ambiguous detecting test set and non-failing tests are given.
キーワード(和) 故障診断 / 組込み自己テスト / ブリッジ故障
キーワード(英) fault diagnosis / BIST / bridging fault
資料番号 VLD2004-70,ICD2004-156,DC2004-56
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2004/11/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Bridging Fault Diagnosis Using Ambiguous Test Set
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis
キーワード(2)(和/英) 組込み自己テスト / BIST
キーワード(3)(和/英) ブリッジ故障 / bridging fault
第 1 著者 氏名(和/英) 西山 隆広 / Takahiro NISHIYAMA
第 1 著者 所属(和/英) 愛媛大学大学院理工学研究科
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
第 2 著者 氏名(和/英) 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI
第 2 著者 所属(和/英) 愛媛大学工学部情報工学科
Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University
第 3 著者 氏名(和/英) 山崎 浩二 / Kouji YAMASAKI
第 3 著者 所属(和/英) 明治大学情報コミュニケーション学部
School of Information and Communication, Meiji University
第 4 著者 氏名(和/英) 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI
第 4 著者 所属(和/英) 愛媛大学工学部情報工学科
Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University
第 5 著者 氏名(和/英) 高松 雄三 / Yuzo TAKAMATSU
第 5 著者 所属(和/英) 愛媛大学工学部情報工学科
Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University
発表年月日 2004/11/25
資料番号 VLD2004-70,ICD2004-156,DC2004-56
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 480
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日