講演名 2005/6/21
三次元実装に用いる高アスペクト銅穴埋めっき(Advanced ULSI Technology, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
近藤 和夫, 米澤 稔利浩, 三上 大輔, 大久保 利一, 高橋 健司,
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抄録(和)
抄録(英) The optimized concentration of additives are, SPR as 5mg/L, LEV as 0.2mg/L, SPS(Bis(3-sulfopropul)disulfide) as 2mg/L, HCl as 70mg/L and H_2SO_4 as 25g/L. With I_=6mA/cm^2, however, the vias have voids. O_2 gas was bubbled into the bath. With pulse reverse current of Ton:Trev:Toff=200ms:10ms:200ms, Irev/Ion=2.0, perfect via filling was achieved by applying I_=6mA/cm^2 with 75 minutes. Then two steps current densities was applied with initial I_=6mA/cm^2 of 50 minutes and second I_=15mA/cm^2 of 10 minutes. The time shortening of 60 minutes with perfect via filling was achieved.
キーワード(和)
キーワード(英) Three dimensional packaging / Copper / Via Filling
資料番号 ED2005-70,SDM2005-90
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2005/6/21(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 ENG
タイトル(和) 三次元実装に用いる高アスペクト銅穴埋めっき(Advanced ULSI Technology, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
サブタイトル(和)
タイトル(英) High Aspect Ratio Copper Via Filling Used for the Three- Dimensional Chip Stacking(Advanced ULSI Technology)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / Three dimensional packaging
第 1 著者 氏名(和/英) 近藤 和夫 / Kazuo KONDO
第 1 著者 所属(和/英) 大阪府立大学工学研究科
Department of Chemical Engineering, Osaka Prefecture University
第 2 著者 氏名(和/英) 米澤 稔利浩 / Toshihiro YONEZAWA
第 2 著者 所属(和/英) 大阪府立大学工学研究科
Department of Chemical Engineering, Osaka Prefecture University
第 3 著者 氏名(和/英) 三上 大輔 / Daisuke MIKAMI
第 3 著者 所属(和/英) 大阪府立大学工学研究科
Department of Chemical Engineering, Osaka Prefecture University
第 4 著者 氏名(和/英) 大久保 利一 / Toshikazu OKUBO
第 4 著者 所属(和/英) 凸版印刷(株)
Semiconductor Packaging Laboratory, Toppan Printing Co., Ltd.
第 5 著者 氏名(和/英) 高橋 健司 / Kenji TAKAHASHI
第 5 著者 所属(和/英) (株)東芝セミコンダクター社
Toshiba Corp. Semiconductor Company 1
発表年月日 2005/6/21
資料番号 ED2005-70,SDM2005-90
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 155
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日