| 講演名 | 2005/1/20 単電子ニューロデバイスの熱雑音特性に関する数値的考察(量子効果デバイス及び関連技術) 大矢 剛嗣, 浅井 哲也, 加賀谷 亮, 廣瀬 哲也, 雨宮 好仁, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 自然界(たとえば生物の脳)において、情報処理を行うシステムの構成要素が不均一であるものが多々ある。それにもかかわらず系全体としては正しく動作する。さらに、ノイズ下においてもロバストに情報処理を行う。近年、ニューラルネットワークのノイズに対する冗長性に関して様々な報告がされている。ニューラルネットワークに現れるロバスト性を仮に単電子回路で実現できたならば、デバイスエラーや熱雑音に対して冗長な単電子LSIを実現できると考える。本研究では、単電子回路でニューロン回路を構成し、それを用いた競合ニューラルネットワークをつくる。また、これらの回路についてシミュレーションにより動作の確認を行う。シミュレーションから得られるデータを基に単電子ニューラルネットの熱雑音特性について考察を行う。 |
| 抄録(英) | Information processing devices in the natural world ; e.g., our central nervous systems, can operate correctly under a noisy environment even though the unit elements are sensitive to noises. Recently many researchers have reported noise tolerance on neural networks. If we apply such tolerance of neural networks to single-electron circuits, we may design novel single-electron LSIs that have such tolerance for device failure or thermal noise. In this report, we propose a neuron circuit with a single-electron circuit, and a neural network with the circuit. We investigate noise and falut tolerance of the proposed network circuits by numerical simulations. |
| キーワード(和) | 単電子回路 / 競合ニューラルネットワーク / 耐故障性 / 耐雑音性 |
| キーワード(英) | single-electron circuit / competitive neural network / fault tolerance / noise tolerance |
| 資料番号 | ED2004-233,SDM2004-228 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
|---|---|
| 開催期間 | 2005/1/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Silicon Device and Materials (SDM) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 単電子ニューロデバイスの熱雑音特性に関する数値的考察(量子効果デバイス及び関連技術) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Numerical Examinations of Single-Electron Neural Devices : Temperature Characteristics on Competitive Neural Network |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 単電子回路 / single-electron circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 競合ニューラルネットワーク / competitive neural network |
| キーワード(3)（和/英） | 耐故障性 / fault tolerance |
| キーワード(4)（和/英） | 耐雑音性 / noise tolerance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大矢 剛嗣 / Takahide OYA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 浅井 哲也 / Tetsuya ASAI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 加賀谷 亮 / Ryo KAGAYA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 廣瀬 哲也 / Tetsuya HIROSE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 雨宮 好仁 / Yoshihito AMEMIYA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University |
| 発表年月日 | 2005/1/20 |
| 資料番号 | ED2004-233,SDM2004-228 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 624 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |