| 講演名 | 2004/11/5 国際規格に基づく制御則の確率的安全性評価・管理の試み(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価) 陶山 貢市, |
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| 抄録(和) | 制御系に用いられるコントローラ,すなわち制御則(コントロールロジック)の安全性を国際規格IEC 61508に従って確率的に評価・管理する枠組みを提案する.この枠組みによって高安全性制御系設計のリスク低減での貢献が明確となり,その結果,IEC 61508に準拠したシステムの安全性設計における意義を確立することができる.ほとんどすべての高安全性制御系設計に対して適用できるこの枠組みはそれをIEC 61508をはじめとする国際規格に準拠した世界に取り込むことを可能とし,産業界での実用的観点からの意味はきわめて大きい. |
| 抄録(英) | This paper presents a probabilistic safety assessment and management framework based on the international safety standard, IEC 61508, for control laws designed especially by reliable control theory. The framework uses Markov techniques summarized in IEC 61165 to take restoration of control devices into consideration. It clarifies a concrete contribution of reliable control to risk reduction required in IEC 61508. |
| キーワード(和) | 制御則 / 確率的安全性評価・管理 / 高安全性制御系設計 / IEC 61508 |
| キーワード(英) | control low / probabilistic safety assessment and management / reliable control / IEC 61508 |
| 資料番号 | R2004-40,ED2004-153 |
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| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2004/11/5(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | 国際規格に基づく制御則の確率的安全性評価・管理の試み(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Probabilistic safety assessment and management of control laws |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 制御則 / control low |
| キーワード(2)（和/英） | 確率的安全性評価・管理 / probabilistic safety assessment and management |
| キーワード(3)（和/英） | 高安全性制御系設計 / reliable control |
| キーワード(4)（和/英） | IEC 61508 / IEC 61508 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 陶山 貢市 / Koichi SUYAMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京海洋大学海洋工学部海事システム工学科 Department of Maritime Systems Engineering, Tokyo University of Marine Science and Technology |
| 発表年月日 | 2004/11/5 |
| 資料番号 | R2004-40,ED2004-153 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 427 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
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