| 講演名 | 2005-01-17 損失性チップによるマイクロストリップスタブからの放射の抑止(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般) 大隅 康弘, 森田 長吉, |
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| 抄録(和) | マイクロストリップのオープンスタブやラジアルスタブからの放射が回路特性や周囲環境に悪影響を及ぼすことがある. これを防ぐ方法の一つとして薄くて小さな損失性チップをスタブ先端に取り付けるアイディアがある. この方法がどの程度有効かはあまり検討されたことがない. この方法の効果をシミュレーションによって詳細に検討したのでその結果を報告する. |
| 抄録(英) | Radiation from stubs such as open and radial stubs of microstrip lines has occasionally undesirable influence on the circuit characteristics or circumference environment. As one of the measures for preventing this influence an idea is available to attach some thin and small lossy chips near to the tip of stubs. It has not been investigated sufficiently whether this method actually works or not. In this report, the effect of this method is studied in detail by means of numerical simulation. |
| キーワード(和) | マイクロストリップ / オープンスタブ / ラジアルスタブ / FDTD法 |
| キーワード(英) | microstrip / open stub / radial stub / FDTD method |
| 資料番号 | ED2004-206,MW2004-213 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2005/1/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 損失性チップによるマイクロストリップスタブからの放射の抑止(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Suppression of radiation from microstrip stubs by lossy chips |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | マイクロストリップ / microstrip |
| キーワード(2)（和/英） | オープンスタブ / open stub |
| キーワード(3)（和/英） | ラジアルスタブ / radial stub |
| キーワード(4)（和/英） | FDTD法 / FDTD method |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大隅 康弘 / Yasuhiro OHSUMI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千葉工業大学 工学部 電気電子情報工学科 Chiba Institute of Technology, Faculty of Engineering, Department of Electrical, Electronic and Computer Engineering |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 森田 長吉 / Nagayoshi MORITA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉工業大学 工学部 電気電子情報工学科 Chiba Institute of Technology, Faculty of Engineering, Department of Electrical, Electronic and Computer Engineering |
| 発表年月日 | 2005-01-17 |
| 資料番号 | ED2004-206,MW2004-213 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 551 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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