講演名 2005-01-17
ポリマー分散液晶の層厚変化に対する応答時間特性(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般)
齊藤 勝彦, 亀井 利久, 森武 洋, 内海 要三,
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抄録(和) マイクロストリップラインタイプPDLC(polymer dispersed liquid crystal)デバイスのマイクロ波帯での応答時間特性の層厚依存性を測定し, その物理的意味を考察した. ポリマー濃度5wt%および9wt%一定, 印加電界一定の条件でPDLC層厚を変化させ, 層厚が大きくなる程立ち下がり時間が大きく, 立ち上がり時間は小さくなることを示した. ポリマー濃度5wt%のとき, PDLC層厚が100μmの場合は20μmの時に比べ, 立ち上がり時間は1/2に, 立ち下がり時間は3.6倍になることを示した. また, 濃度を9wt%にすると, 層厚依存性は5wt%の時と同じ傾向ではあるが, 層厚依存性は5wt%の時と比べて立ち上がり時間は増加, 立ち下がり時間は減少した.
抄録(英) We measured how the response time characteristics of the microstrip-line type PDLC(polymer dispersed liquid crystal) devices. The physical significance of these results was also examined. By varying the PDLC layer thickness with a polymer concentration of 5wt% or 9wr% and keeping the applied electric field constant, we show that increasing the layer thickness causes the decay time to increase and the rise time to decrease. In the case of a polymer concentration of 5wt%, the rise time obtained with a PDLC layer thickness of 100μm is half the value obtained with thickness of 20μm, while the decay time is approximately 3.6 times larger. The layer thickness dependency of the response time characteristics with polymer concentration 9wt% becames the same tendency as 5wt%. However, comparing with the case of 5wt%, the rise time increases and the decay time decreases.
キーワード(和) マイクロ波 / 高分子分散型液晶 / 応答時間特性 / 層厚依存性
キーワード(英) microwave / polymer dispersed nematic liquid crystal / response time performance / variation of layer thickness
資料番号 ED2004-205,MW2004-212
発行日

研究会情報
研究会 MW
開催期間 2005/1/10(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Microwaves (MW)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ポリマー分散液晶の層厚変化に対する応答時間特性(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Response time performances of polymer dispersed nematic liquid crystal for layer thickness
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) マイクロ波 / microwave
キーワード(2)(和/英) 高分子分散型液晶 / polymer dispersed nematic liquid crystal
キーワード(3)(和/英) 応答時間特性 / response time performance
キーワード(4)(和/英) 層厚依存性 / variation of layer thickness
第 1 著者 氏名(和/英) 齊藤 勝彦 / Katsuhiko SAITO
第 1 著者 所属(和/英) 防衛大学校通信工学科
Department of Communications Engineering, National Defense Academy
第 2 著者 氏名(和/英) 亀井 利久 / Toshihisa KAMEI
第 2 著者 所属(和/英) 防衛大学校通信工学科
Department of Communications Engineering, National Defense Academy
第 3 著者 氏名(和/英) 森武 洋 / Hiroshi MORITAKE
第 3 著者 所属(和/英) 防衛大学校電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, National Defense Academy
第 4 著者 氏名(和/英) 内海 要三 / Yozo UTSUMI
第 4 著者 所属(和/英) 防衛大学校通信工学科
Department of Communications Engineering, National Defense Academy
発表年月日 2005-01-17
資料番号 ED2004-205,MW2004-212
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 551
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日