| 講演名 | 2004/10/21 セミリジッド型同軸ケーブルプローブの電界検出特性と侵襲性 春日 貴志, 鎌田 伸二, 井上 浩, |
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| 抄録(和) | セミリジッド型電界ブローブは近傍電界プローブとしても用いられているが、近傍電界分布は解析結果と必ずしも一致しないことが明かとなっている.本研究では,非侵襲性プローブを開発するための基礎検討として、セミリジッド型同軸ケーブル電界プローブの電界検出特性と侵襲性の原因について明らかにした.50Ω伝送系PCB上の電界分布をFDTD法のシミュレーションと実験により求めたところ両者は一致せず、プローブによって電界分布が乱されていることが明らかとなった.また、プローブを含めたFDTDシミュレーションでは、プローブ終端の電界E_xの分布と実験結果が一致し,セミリジッド型電界プローブ構造を含めた電磁界解析は実際の測定値と一致する解析が可能である. |
| 抄録(英) | A semi-rigid type electric probe is often used to measure the near electric field. However, it was reported that the near electric field distribution measured by semi-rigid type electric probe is not coincided with theoretical value. As the basic research for the development on the noninvasiveness near electric probe, the characteristics and invasiveness of the semi-rigid coaxial cable type electric probe is discussed. The results on electric field distribution measurement and calculation by FDTD method on the PCB with 50 Ω transmission line does not show good agreement. Electric field distributions calculated by FDTD simulation including the electric probe show good agreement with the measured results. The invasiveness to electric field distribution by the electric probe is clarified. The FDTD simulation including the semi-rigid type electric probe can be possible to analyze the actual electric field distribution. |
| キーワード(和) | セミリジッド型電界プローブ / 侵襲性 / PCB / 電界分布 / FDTD法 |
| キーワード(英) | Semi-rigid type electric probe / Invasiveness / PCB / Electric field distribution / FDTD method |
| 資料番号 | EMCJ2004-80,MW2004-156 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2004/10/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | セミリジッド型同軸ケーブルプローブの電界検出特性と侵襲性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Electric Field Detection and Invasiveness of Semi-rigid Coaxial Cable Type Near Electric Field Probe |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | セミリジッド型電界プローブ / Semi-rigid type electric probe |
| キーワード(2)（和/英） | 侵襲性 / Invasiveness |
| キーワード(3)（和/英） | PCB / PCB |
| キーワード(4)（和/英） | 電界分布 / Electric field distribution |
| キーワード(5)（和/英） | FDTD法 / FDTD method |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 春日 貴志 / Takashi KASUGA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 秋田大学 工学資源学部 Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 鎌田 伸二 / Shinji KAMATA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 秋田大学 工学資源学部 Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 井上 浩 / Hiroshi INOE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 秋田大学 工学資源学部 Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University |
| 発表年月日 | 2004/10/21 |
| 資料番号 | EMCJ2004-80,MW2004-156 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 384 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |