| 講演名 | 2005-01-25 動的再構成可能デバイスの耐故障化に関する検討(アーキテクチャ, FRGAとその応用及び一般) 越智 直紀, 中原 健太郎, 森江 太士, 神山 真一, 泉 知論, 越智 裕之, 中村 行宏, |
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| 抄録(和) | 再構成可能デバイスを用いることで, 遠隔地からのシステムの更新や, 故障発生に際し故障箇所を避けて回路を再構成することによるシステムの回復などが可能になると期待されており, ハードウェアの保守が困難な宇宙開発などの分野から注目されている.しかし, 宇宙空間等の過酷な状況ではメモリ上の構成情報の破損が頻発し, それが実用の妨げとなっている.本研究では, そのような構成情報の破損に耐えうる動的再構成システムの開発を目指す.本稿では, まず再構成可能システムに関連する耐故障化の研究開発の動向を示し, 次に動的再構成デバイスの耐故障化について基礎的な検討を行う.デバイス・アーキテクチャとして, 多重化と多数決に基づくもの, エラー訂正符号に基づくものを挙げる.これらは, 動的再構成能力を積極的に活用することで破損した構成情報を自律的に修復する. |
| 抄録(英) | Reconfigurable logic devices are expected to be key devices for systems in severe environment such as spacecrafts, satellites, nuclear power plants and so on, since a system with such devices can be updated remotely by uploading new configuration data and, even for the case of physical defects, may be recovered by reconfiguration excluding faulty parts. However, in order to utilize reconfigurable devices in such a severe environment, we have to cope with logical defects of configuration data. Our goal is to enhance fault tolerance of dynamic reconfigurable systems especially to logical defects in configuration data. In this paper, we review previous works on fault tolerance of reconfigurable systems. Then, we discuss on frameworks of device architectures to enhance fault tolerance. We propose two types of architectures, one based on majority voting, and the other based on error-correcting codes. Both of them correct faults in configuration data autonomously utilizing the ability of dynamic reconfiguration. |
| キーワード(和) | 耐故障 / 動的再構成可能デバイス / 論理故障 / エラー訂正 / 多重化 |
| キーワード(英) | Fault tolerance / Dynamic reconfigurable device / Single event upset(SEU) / Error correcotion / Multiplex |
| 資料番号 | VLD2004-101,CPSY2004-67 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
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| 開催期間 | 2005/1/18(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 動的再構成可能デバイスの耐故障化に関する検討(アーキテクチャ, FRGAとその応用及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Discussion on Fault Tolerance of Dynamic Reconfigurable Device |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐故障 / Fault tolerance |
| キーワード(2)（和/英） | 動的再構成可能デバイス / Dynamic reconfigurable device |
| キーワード(3)（和/英） | 論理故障 / Single event upset(SEU) |
| キーワード(4)（和/英） | エラー訂正 / Error correcotion |
| キーワード(5)（和/英） | 多重化 / Multiplex |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 越智 直紀 / Naoki OCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報学研究科 Department of Communications and Computer Engineering, Graduate School of Informatics, Kyoto University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中原 健太郎 / Kentaro NAKAHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都大学工学部電気電子工学科 School of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Kyoto University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 森江 太士 / Futoshi MORIE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報学研究科 Department of Communications and Computer Engineering, Graduate School of Informatics, Kyoto University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 神山 真一 / Shinichi KOUYAMA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報学研究科 Department of Communications and Computer Engineering, Graduate School of Informatics, Kyoto University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 泉 知論 / Tomonori IZUMI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報学研究科 Department of Communications and Computer Engineering, Graduate School of Informatics, Kyoto University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 越智 裕之 / Hiroyuki OCHI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報学研究科 Department of Communications and Computer Engineering, Graduate School of Informatics, Kyoto University |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 中村 行宏 / Yukihiro NAKAMURA |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報学研究科 Department of Communications and Computer Engineering, Graduate School of Informatics, Kyoto University |
| 発表年月日 | 2005-01-25 |
| 資料番号 | VLD2004-101,CPSY2004-67 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 591 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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