| 講演名 | 2005-01-21 マイクロ波帯における終端開放型方形導波管を用いた高損失固体材料の誘電率測定 江原 英利, 谷 健祐, 三木 大輔, 大西 輝夫, 上林 真司, 橋本 修, |
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| 抄録(和) | 本報告では, 比吸収率(SAR : Specific Absorption Rate)測定用固体ファントムの誘電率を非破壊で確認する手段を示すことを目的とし, 終端開放型方形導波管を用いた高損失固体材料に対する誘電率測定について基礎検討を行った.まず, FDTD法を用いて, 高損失固体材料表面に終端開放型方形導波管を密着させた構成をモデル化し, 複素比誘電率を変数として反射係数を算出した.そして, 周波数2GHz及び5GHzにおいて, 複素比誘電率と反射係数の関係を示す誘電率チャートを導出した.次に, 数値計算と同様の構成において, 高損失固体材料に対する反射係数測定を行い, 先に導出した誘電率チャート上に測定値をプロットした.この結果を, 同軸管法及び同軸プローブ法による複素比誘電率の測定結果と比較した.更に, 終端開放型方形導波管の端部に, 低損失誘電体を用いたインピーダンス整合層を適用して反射係数を得る方法を提案し, 整合層の適用前と比較して反射係数の変動が大きな誘電率チャートが得られることを解析的に示した. |
| 抄録(英) | The aim of this study is to specify a nondestructive dielectric measurement method for a solid phantom, which is constructed to measure the Specific Absorption Rate (SAR). In this paper, dielectric measurement using an open-ended waveguide is adopted to measure the complex permittivity of a solid dielectric material with high conductivity. A numerical model representing the case where an open-ended waveguide is attached to the surface of the solid dielectric material is simulated using the FD-TD method. The complex reflection coefficient is calculated when varying the complex permittivity of the solid dielectric material. Charts of the relationship between the complex permittivity and the complex reflection coefficient are derived at 2 GHz and 5 GHz. The measured complex reflection coefficient is plotted on the charts. The results using this method are compared to the measurement results using the coaxial line method and the open-ended coaxial probe method. Additionally, this paper proposes a method using a low-loss dielectric material at the end of the waveguide for impedance matching with the solid dielectric material with high conductivity. As a result, the charts indicate that the complex reflection coefficient is drastically varied according to the change in the complex permittivity of the solid dielectric material. |
| キーワード(和) | 誘電率測定 / 導波管 / 固体ファントム / FDTD法 / インピーダンス整合 |
| キーワード(英) | dielectric measurement / waveguide / solid phantom / FD-TD method / impedance matching |
| 資料番号 | EMCJ2004-134 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2005/1/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マイクロ波帯における終端開放型方形導波管を用いた高損失固体材料の誘電率測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Dielectric Measurement of Solid Lossy Dielectric Material Using Open-Ended Waveguide in Microwave Frequency Band |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 誘電率測定 / dielectric measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 導波管 / waveguide |
| キーワード(3)（和/英） | 固体ファントム / solid phantom |
| キーワード(4)（和/英） | FDTD法 / FD-TD method |
| キーワード(5)（和/英） | インピーダンス整合 / impedance matching |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 江原 英利 / Hidetoshi EBARA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTドコモ NTT DoCoMo, Inc. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 谷 健祐 / Kensuke TANI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 青山学院大学 Aoyama Gakuin University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 三木 大輔 / Daisuke MIKI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 青山学院大学 Aoyama Gakuin University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大西 輝夫 / Teruo ONISHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTドコモ NTT DoCoMo, Inc. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 上林 真司 / Shinji UEBAYASHI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTドコモ NTT DoCoMo, Inc. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 橋本 修 / Osamu HASHIMOTO |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 青山学院大学 Aoyama Gakuin University |
| 発表年月日 | 2005-01-21 |
| 資料番号 | EMCJ2004-134 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 563 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |