| 講演名 | 2005/3/8 ユビキタス情報に基づく店舗内回遊モデル(社会システムと知能(群ユーザモデルと知的支援), 「社会システムにおける知能」及び一般) 豊嶋 伊知郎, 小磯 貴史, 吉田 琢史, 服部 可奈子, 今崎 直樹, |
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| 抄録(和) | 商業施設内における群集行動の一例である, 大規模小売店舗内における顧客の回遊モデルを提案する.商業施設等を含む, 特定空間内の群集行動モデルとしては, セルオートマトンや, 確率効用最大化モデルが挙げられるが, それらのモデルは各々特有の限界を持ち, 商業施設等を対象とした場合, 群集行動を十分に説明することは難しい.本研究では小売店舗内における顧客の一日回遊モデルのフレームワークを述べた後, 顧客入店決定・予定滞在時間決定・目標スポット決定・移動経路決定・滞在終了決定等のサブモデルに関して詳述する.また上記モデルを用いたシミュレーション方法に関しても解説する. |
| 抄録(英) | Customer behavior models are considered to be useful for the analysis and improvement of the management of commercial spaces. Various models, e.g. cellular automation model or probabilistic utility maximization model, have been proposed so far. They are, however, not feasible enough to handle the whole activities of customers through their stay. This paper proposes a customer behavior model based on ubiquitous data for large scale retail stores. The model, consisting of several sub-models that are identified by real data, is expected to predict a day of a retail store by simulating each customer's behavior from the entrance to the exit. Challenges of the model are also discussed. |
| キーワード(和) | 顧客行動 / 小売店舗内一日回遊モデル / 多項ロジットモデル / 加速故障モデル |
| キーワード(英) | customer behavior / one-day customer-go-around model in a large scale retail store / accelerated failure time model / multinominal logit model / hidden markov model |
| 資料番号 | AI2004-90 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | AI |
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| 開催期間 | 2005/3/8(から1日開催) |
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| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Artificial Intelligence and Knowledge-Based Processing (AI) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ユビキタス情報に基づく店舗内回遊モデル(社会システムと知能(群ユーザモデルと知的支援), 「社会システムにおける知能」及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | One-day Customer-go-around Model in a Retail Store, Based on Ubiquitous Data |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 顧客行動 / customer behavior |
| キーワード(2)（和/英） | 小売店舗内一日回遊モデル / one-day customer-go-around model in a large scale retail store |
| キーワード(3)（和/英） | 多項ロジットモデル / accelerated failure time model |
| キーワード(4)（和/英） | 加速故障モデル / multinominal logit model |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 豊嶋 伊知郎 / Ichiro TOYOSHIMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センターシステム技術ラボラトリー Toshiba Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小磯 貴史 / Takashi KOISO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センターシステム技術ラボラトリー Toshiba Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉田 琢史 / Takufumi YOSHIDA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センターシステム技術ラボラトリー Toshiba Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 服部 可奈子 / Kanako HATTORI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センターシステム技術ラボラトリー Toshiba Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 今崎 直樹 / Naoki IMASAKI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センターシステム技術ラボラトリー Toshiba Corporation |
| 発表年月日 | 2005/3/8 |
| 資料番号 | AI2004-90 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 727 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |