講演名 2004/10/29
貴金属-遷移金属合金,交換結合二層膜の磁気異方性と磁気円二色性(高密度磁気ストレージ材料 : 開発の現状・未来と解析技術)
加藤 剛志, 水野 俊也, 藤原 裕司, / 綱島 滋, / 岩田 聡,
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抄録(和) 室温で1degといった非常に大きなKerr効果を示すMnPt_3,CrPt_3規則合金の垂直磁気異方性の起源をX線磁気円二色性(XMCD)により検討した.Mn,Crなどの3d遷移金属の/2は垂直磁気異方性と強い相関があることが分かり,垂直磁気異方性は大きな/2と格子ひずみにより説明されることが分かった.XMCDと光電子顕微鏡を組み合わせることで,CoFeB/MnIr交換結合膜の元素選択的な磁気像を得た.CoFeB層は300nm程度の大きさの不規則な磁区構造を示した.CoFeB/MnIr界面で強磁性的なMnスピンが検出され,MnがCoと反強磁性的に結合していることが分かった.
抄録(英) MnPt_3 and CrPt_3 ordered alloy films, exhibiting large Kerr rotations around 1 deg at room temperature, have been analyzed by using X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) to investigate the origin of their perpendicular magnetic anisotropies. /2 of transition metal elements, such as Mn and Cr, was found to strongly correlate with the perpendicular anisotropy, and the anisotropy was found to be qualitatively explained by the /2 and lattice distortion. The element specific domain configuration of a CoFeB/MnIr exchange bilayer was studied by photoemission electron microscopy using XMCD. Irregular shaped domain structure of ~ 300 nm width was imaged for the CoFeB layer. Uncompensated Mn spins at the CoFeB/MnIr interface with an antiferromagnetic coupling between the Mn and the Co magnetic moments could be studied.
キーワード(和) X線磁気円二色性 / 遷移金属Pt合金 / 交換結合 / 光電子顕微鏡
キーワード(英) X-ray magnetic circular dichroism / transition-metal-Pt alloys / exchange coupling / photoemission microscopy
資料番号 MR2004-25
発行日

研究会情報
研究会 MR
開催期間 2004/10/29(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Magnetic Recording (MR)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 貴金属-遷移金属合金,交換結合二層膜の磁気異方性と磁気円二色性(高密度磁気ストレージ材料 : 開発の現状・未来と解析技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Magnetic Anisotropy and Magnetic Circular Dichroism of Noble Metal-Transition Metal Alloy Films and Exchange Coupled Bilayers
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) X線磁気円二色性 / X-ray magnetic circular dichroism
キーワード(2)(和/英) 遷移金属Pt合金 / transition-metal-Pt alloys
キーワード(3)(和/英) 交換結合 / exchange coupling
キーワード(4)(和/英) 光電子顕微鏡 / photoemission microscopy
第 1 著者 氏名(和/英) 加藤 剛志 / T. Kato
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋大学大学院工学研究科
Dept. of Electronics, Nagoya University
第 2 著者 氏名(和/英) 水野 俊也 / T. Mizuno
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋大学大学院工学研究科
Dept. of Electronics, Nagoya University
第 3 著者 氏名(和/英) 藤原 裕司 / Y. Fujiwara
第 3 著者 所属(和/英) 三重大学工学部
Dept. of Physics Engineering, Mie University
第 4 著者 氏名(和/英) / 綱島 滋 / T. Eimueller
第 4 著者 所属(和/英) / 名古屋大学大学院工学研究科
Max-Plank-Institute for Metals Research Heisenbergstrasse
第 5 著者 氏名(和/英) / 岩田 聡 / S. Tsunashima
第 5 著者 所属(和/英) / 名古屋大学先端技術共同研究センター
Dept. of Electronics, Nagoya University
発表年月日 2004/10/29
資料番号 MR2004-25
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 409
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日