講演名 2005/1/20
ローカルエピタキシー法によるCoSi_2/CaF_2三重障壁共鳴トンネルダイオードの微分負性抵抗特性(量子効果デバイス及び関連技術)
渡辺 正裕, 田村 信平, 金澤 徹, 自念 圭輔, 浅田 雅洋,
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抄録(和) シリコン基板上にエピタキシャル成長可能な弗化物系絶縁物弗化カルシウム(CaF_2)とシリサド系金属コバルトシリサイド(CoSi_2)を組み合わせたヘテロ量子構造は、共鳴トンネルやサブバンドを利用し、なおかつ、室温で動作可能な量子効果機能素子の材料系として魅力的である。CoSi_2/CaF_2の接合界面には大きな伝導帯バンド不連続(∿3eV相当)があるため、本材料構成で共鳴トンネルダイオードを構成すると、室温においても極めて顕著な微分負性抵抗が期待できる。近年、著者らは弗化物ヘテロ構造の精密結晶成長法として、100nm以下の微小孔中にエピタキシャル成長を行うローカルエピタキシー法を提案し、CdF_2/CaF_2共鳴トンネルダイオードの微分負性抵抗の精密制御を達成してきたが、今回、本手法をCoSi_2/CaF_2ヘテロ構造に適用し、三重障壁共鳴トンネルダイオード構造を作製・評価したところ、室温におけるpeak to valley比の大幅な改善が見られたので報告する。
抄録(英) (Metal)CoSi_2/(Insulator)CaF_2 triple barrier resonant tunneling diode structures were grown on Si(111) substrate using Local Epitaxy technique. The heterostructures were grown in holes with diameter of 40nm fabricated by electron beam lithography. In the measurement of I-V characteristics, clear negative differential resistance characteristics were observed at room temperature with peak to valley current ratio (PVR) of 33, which was significantly larger than that of RTDs grown by conventional MEB.
キーワード(和) 弗化カルシウム / コバルトシリサイド / ヘテロ接合 / 共鳴トンネル / 微分負性抵抗特性 / シリコン
キーワード(英) CoSi_2 / CaF_2 / epitaxial growth / resonant tunneling / negative differential resistance
資料番号 ED2004-228,SDM2004-223
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2005/1/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ローカルエピタキシー法によるCoSi_2/CaF_2三重障壁共鳴トンネルダイオードの微分負性抵抗特性(量子効果デバイス及び関連技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Negative Differential Resistance of CoSi_2/CaF_2 Triple Barrier Resonant Tunneling Diode Grown by Local Epitaxy
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 弗化カルシウム / CoSi_2
キーワード(2)(和/英) コバルトシリサイド / CaF_2
キーワード(3)(和/英) ヘテロ接合 / epitaxial growth
キーワード(4)(和/英) 共鳴トンネル / resonant tunneling
キーワード(5)(和/英) 微分負性抵抗特性 / negative differential resistance
キーワード(6)(和/英) シリコン
第 1 著者 氏名(和/英) 渡辺 正裕 / Masahiro WATANABE
第 1 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院総合理工学研究科:科学技術振興機構
Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology:SORST
第 2 著者 氏名(和/英) 田村 信平 / Shinpei TAMURA
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院総合理工学研究科
Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 金澤 徹 / Tohru KANAZAWA
第 3 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院総合理工学研究科
Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 自念 圭輔 / Keisuke JINEN
第 4 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院総合理工学研究科
Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 浅田 雅洋 / Masahiro ASADA
第 5 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院総合理工学研究科:戦略創造
Interdisciplinary Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology:CREST-JST
発表年月日 2005/1/20
資料番号 ED2004-228,SDM2004-223
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 622
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日