| 講演名 | 2005-01-28 スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) 新井 雅之, 黒川 晴申, 市野 憲一, 福本 聡, 岩崎 一彦, |
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| 抄録(和) | 本稿では, 複数のスキャンチェーンが存在するスキャンBISTに対する, LFSRの初期値とフェーズシフタの選択法について議論する. LFSRの初期値選択法は, 少ない回数の故障シミュレーションを用いて, 与えられた故障検出率を最も短いテスト長で達成可能な初期値を高速に検索する. ハードウェアオーバヘッドは必要としない. 本手法を複数スキャンチェーン構成に適用することで, テスト時間をさらに圧縮することが期待できる. 複数スキャンチェーンにおけるスキャンチェーン間の線形従属性を回避するため, フェーズシフタを併用する. フェーズシフタのためのハードウェアオーバヘッドに制限を設け, フェーズシフタの構成とLFSR初期値を選択する手法について検討する. 故障検出率100%を達成する最短テスト長の観点から評価を行う. 実験結果から, フェーズシフタを構成するEORゲート数が少ない条件においても, フェーズシフタを用いない場合や, 初期値選択法を用いない場合と比較して, テスト長が減少することを示す. |
| 抄録(英) | In this paper, we discuss the application of a seed-selection procedure for LFSR-based BIST to multiple scan chains, combined with a phase shifter. The seed-selection procedure can search the seed of the LFSR that has least test length under the given fault coverage. No hardware overhead is required. By applying this procedure to multiple scan chains, further reduction of testing time can be expected. To avoid linear dependency between scan chains, we combine the procedure with phase shifter. We introduced the procedures for selecting seeds and arrangement of phase shifters under the restriction of limiting additional hardware overheads, and evaluated them in respect to the number of test patterns required to achieve 100% fault coverage. Experimental results shows that that the test length was reduced in comparison with cases in which phase shifters or seed-selection procedures were not applied, under condition where the number of EOR gates in the phase shifter were restricted. |
| キーワード(和) | 初期値選択法 / スキャンBIST / LFSR / フェーズシフタ |
| キーワード(英) | seed selection procedure / scan BIST / LFSR / phase shifter |
| 資料番号 | CPM2004-171,ICD2004-216 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2005/1/21(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Selection of Seeds and Phase Shifters for Scan BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 初期値選択法 / seed selection procedure |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンBIST / scan BIST |
| キーワード(3)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(4)（和/英） | フェーズシフタ / phase shifter |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki ARAI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 黒川 晴申 / Harunobu KUROKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市野 憲一 / Kenichi ICHINO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福本 聡 / Satoshi FUKUMOTO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko IWASAKI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2005-01-28 |
| 資料番号 | CPM2004-171,ICD2004-216 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 627 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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