| 講演名 | 2005-01-28 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) 三浦 克介, 中前 幸治, 藤岡 弘, |
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| 抄録(和) | LSIのCADレイアウトから抽出したネットリストを用いて, 外部観測型テスト装置であるLSIテスタにより故障診断を行い, これにより得られた故障候補を, EBテスタ, LVP(laser voltage prober), 時間分解エミッション顕微鏡などの内部波形が観測可能な内部観測型テスト装置(プローバ)での故障絞込みに活用する手法を提案している. 設計時のネットリストや, 診断用テストベクトルの生成を必要としないので, 半導体製造メーカーにおける故障診断部門においても, 容易に利用することができる. 本手法をISCAS'85ベンチマーク回路に適用し, 本手法の有効性を示している. |
| 抄録(英) | An LSI fault localization method that utilizes output vectors from external test equipment such as the LSI tester and a netlist extracted from the CAD layout data is proposed. An obtained fault-candidate list is used in further fault localization process by internal test equipment such as the electron beam (EB) tester, the laser voltage prober (LVP), and the time resolved emission microscope. Our method requires no design netlist nor generation of test vectors for fault diagnosis. Therefore, it can be easily used at a fault diagnostic division in semiconductor manufacturers. Our method is applied to ISCAS'85 benchmark circuits to show its validity. |
| キーワード(和) | 故障診断 / LSIテスタ / EBテスタ / LVP / 時間分解エミッション顕微鏡 / CADレイアウト |
| キーワード(英) | fault diagnosis / LSI tester / EB tester / LVP / time resolved emission microscope / CAD layout |
| 資料番号 | CPM2004-170,ICD2004-215 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2005/1/21(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | LSI fault diagnosis by using functional test result and netlist extracted from CAD layout data |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | LSIテスタ / LSI tester |
| キーワード(3)（和/英） | EBテスタ / EB tester |
| キーワード(4)（和/英） | LVP / LVP |
| キーワード(5)（和/英） | 時間分解エミッション顕微鏡 / time resolved emission microscope |
| キーワード(6)（和/英） | CADレイアウト / CAD layout |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三浦 克介 / Katsuyoshi MIURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Eng., Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中前 幸治 / Koji NAKAMAE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Eng., Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤岡 弘 / Hiromu FUJIOKA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Eng., Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University |
| 発表年月日 | 2005-01-28 |
| 資料番号 | CPM2004-170,ICD2004-215 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 627 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
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