| 講演名 | 2005-01-28 テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) 新谷 道広, 越智 正邦, 市原 英行, 井上 智生, |
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| 抄録(和) | ハフマン符号などの可変長符号を用いたテストデータ圧縮・展開手法は, テスト実行時間の増加およびテスタメモリ不足の問題に対して有効な手法である. 本論文では, 可変長符号のためのバッファを持つ埋め込み展開器を提案し, その特性を議論する. 提案する展開器はバッファを持つため, テスタと展開器の間に同期フィードバック機構を付加する必要が無い. さらに, 埋め込み展開器の回路面積オーバーヘッドを小さくするために, バッファサイズを削減する手法を提案する. バッファサイズはテストベクトルの入力順に依存するため, テストベクトルの並び替えによって削減が可能である. 実験結果において, 提案アルゴリズムはバッファサイズを最大97%削減可能であることを示す. |
| 抄録(英) | Test compression / decompression scheme using variable-length coding, e.g., Huffman coding, is effective in reducing the test application time and the size of the storage on an LSI tester. In this paper, we propose a model of a decompressor with a buffer for variable-length coding and discuss its property. The embedded buffer allows the decompressor to operate at any input and output clock frequency without a synchronizing mechanism between an ATE and the decompressor. Moreover, we propose a method for reducing the buffer size in the decompressor. Since the buffer size depends on the input order of test vectors, test vector reordering can reduce the buffer size. The proposed algorithm is based on fluctuations in buffered data for each test vector. Experimental results show a case where the ordering algorithm can reduce the size of the buffer by 97%. |
| キーワード(和) | テスト圧縮 / ハフマン符号 / 埋込み展開器 / バッファ / テストベクトル / 並び替え |
| キーワード(英) | Test compression / Huffman coding / embedded decompressor / buffer / test vector / ordering |
| 資料番号 | CPM2004-168,ICD2004-213 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2005/1/21(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Decompressor with Buffer for Test Compression / Decompression |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト圧縮 / Test compression |
| キーワード(2)（和/英） | ハフマン符号 / Huffman coding |
| キーワード(3)（和/英） | 埋込み展開器 / embedded decompressor |
| キーワード(4)（和/英） | バッファ / buffer |
| キーワード(5)（和/英） | テストベクトル / test vector |
| キーワード(6)（和/英） | 並び替え / ordering |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 新谷 道広 / Michihiro SHINTANI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越智 正邦 / Masakuni OCHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki ICHIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo INOUE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 発表年月日 | 2005-01-28 |
| 資料番号 | CPM2004-168,ICD2004-213 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 627 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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