| 講演名 | 2005-01-28 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) 豊田 直哉, 梶原 誠司, 温 暁青, 真田 克, |
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| 抄録(和) | 現在の故障診断は, 回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い. しかし, 回路の大規模化により, これらの観測のみでは故障分解能が低下し, 診断時間も増大する. この問題を解決するには, 回路内に観測点を挿入することが有効であるが, 故障診断のための観測性の定量的評価手法が存在しないため, 観測点挿入による効果が不明瞭になり挿入手法の評価が困難になっている. そこで本論文では, 回路構造及び観測点から故障診断のための観測性の定量化について考察する. |
| 抄録(英) | In most fault diagnosis, logic values can be observed at primary outputs and scan flip-flops as observation points. However, the diagnostic resolution with these observation points is insufficient. To improve the diagnostic resolution, observation points for fault diagnosis are inserted in the circuit under diagnosis. On the other hand, studies on test point insertion for diagnosis are hard because observability for fault diagnosis has not been quantified. In this paper we discuss on the diagnostic observability of logic circuits. |
| キーワード(和) | 故障診断 / フルスキャン回路 / テストポイント挿入 / 観測性 |
| キーワード(英) | fault diagnosis / full scan circuit / test point insertion / observability |
| 資料番号 | CPM2004-167,ICD2004-212 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2005/1/21(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Observability Quantification for Fault Diagnosis of VLSI Circuits |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | フルスキャン回路 / full scan circuit |
| キーワード(3)（和/英） | テストポイント挿入 / test point insertion |
| キーワード(4)（和/英） | 観測性 / observability |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 豊田 直哉 / Naoya TOYOTA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学研究科 Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学研究科 Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing WEN |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学研究科 Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 真田 克 / Masaru SANADA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部 NEC Electronics Test Analysis Technology Development Div. Technology Foundation Development Op. Unit |
| 発表年月日 | 2005-01-28 |
| 資料番号 | CPM2004-167,ICD2004-212 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 627 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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