| 講演名 | 2005-01-28 RTL故障診断技術の実用化に向けた開発(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) 二階堂 正人, 船津 幸永, |
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| 抄録(和) | RTL故障診断として, Assignment Decision Diagram(ADD)を用いて, ADDのノードをBacktrackingする手法を提案している. 現在本技術を用いた2種類の診断システムを検討している. 1つは, RTLからGateレベルへと階層的に故障箇所を絞り込んでいくシステムである. もう1つは, Gateレベル故障診断システム内で, RTLライブラリをRTLで診断するシステムである. 今回, ベンチマーク回路と実際のライブラリ回路を用いて, RTLライブラリ診断の性能を評価した. Gateレベル推定と比較して, ADDのノード数がGate数と比べて少ない場合に, 処理時間の短縮効果が大きいことがわかった. |
| 抄録(英) | RTL (Register Transfer Level) fault diagnosis technique based on backtracking the node in Assignment Decision Diagrams (ADDs) has been proposed. And two types of integrated diagnosis system have been proposed. One of them is the system that narrows down the fault candidate hierarchically to gate-level from RTL. The other system is that RTL diagnosis handles RTL libraries in a gate-level diagnosis. In this paper, RTL libraries diagnosis capability was discussed using several benchmark circuits and library circuits. The result imply that the calculation time of the RTL diagnosis would become effectively shorter than the one of the gate-level diagnosis, if the number of nodes in ADD become less than the one in a gate-level netlist. |
| キーワード(和) | 故障診断 / RTL / 論理回路 / 決定グラフ / 経路追跡 |
| キーワード(英) | Fault Diagnosis / RTL / Logic Circuit / Decision Diagram / Path Trace |
| 資料番号 | CPM2004-166,ICD2004-211 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2005/1/21(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | RTL故障診断技術の実用化に向けた開発(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improvement of RTL Fault Diagnosis Technology for Practical Use |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / Fault Diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | RTL / RTL |
| キーワード(3)（和/英） | 論理回路 / Logic Circuit |
| キーワード(4)（和/英） | 決定グラフ / Decision Diagram |
| キーワード(5)（和/英） | 経路追跡 / Path Trace |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 二階堂 正人 / Masafumi NIKAIDO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス テスト評価技術開発事業部 Test Analysis Technology Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 船津 幸永 / Yukihisa FUNATSU |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス テスト評価技術開発事業部 Test Analysis Technology Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 発表年月日 | 2005-01-28 |
| 資料番号 | CPM2004-166,ICD2004-211 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 627 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |