講演名 2005-01-28
アナログ回路の故障診断手法の検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
久慈 憲夫,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) アナログ回路のパラメータ故障診断法として、観測用テストパッドの配置を前提とする新しい診断法を提案する。この手法では、従来のパラメータ算定法の問題点を解決するため、故障パラメータが確率的に少数に限られるという仮定のもとで回路方程式をたて、これを解くことで回路パラメータの変動値を直接求める。解が存在する場合、その素子パラメータを故障候補とし、特性測定値との近さによる重み付けにより故障候補の順位づけを行う。更に、観測ポイントの最適な選択方法として、テスタビリティに基づいて回路ノード毎の診断能率を評価する方法を提案する。本手法をオペアンプの高抵抗ビア故障の診断に適用し、その有効性を確認した。提案手法は設計上の知識無しに自動診断することが可能であり、RF信号処理LSIに代表されるデジタル・アナログ混在LSIの故障診断に大きく寄与するものと考えられる。
抄録(英) A novel diagnostic method has been proposed for parameter faults in analog circuits. In the proposed method, candidates of parameter faults are extracted by solving voltage circuit equations, assuming that only a few patameters are faulty from a viewpoint of probability, and that devices under test (DUT) have a few testing pads for probing. The extracted parameters are ranked according to nearness to the observed electrical responses of DUT. Furthermore, a optimum test-point-selection method has also been discussed, which evaluates diagostic efficiency at each circuit node based on testability measure. The proposed method has been applied to fault diagnosis of an operational amplifier, and its effectiveness has been verified. Since the method enables us to diagnose analog circuits without any knowledge about design, it will greatly contribute to efficient fault diagnosis of mixed-signal LSIs.
キーワード(和) アナログ回路 / 故障診断 / パラメータ最適化 / 観測用テストパッド / デジタル・アナログ混在LSI
キーワード(英) Analog circuits / fault diagnosis / paramater optimization / tesing pads / mixed-signal LSI
資料番号 CPM2004-165,ICD2004-210
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2005/1/21(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) アナログ回路の故障診断手法の検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Investigation of diagnostic methods for analog circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) アナログ回路 / Analog circuits
キーワード(2)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis
キーワード(3)(和/英) パラメータ最適化 / paramater optimization
キーワード(4)(和/英) 観測用テストパッド / tesing pads
キーワード(5)(和/英) デジタル・アナログ混在LSI / mixed-signal LSI
第 1 著者 氏名(和/英) 久慈 憲夫 / Norio KUJI
第 1 著者 所属(和/英) 八戸工業高等専門学校 電気工学科
Department of Electrical Engeneering, Hachinohe National College of Technology
発表年月日 2005-01-28
資料番号 CPM2004-165,ICD2004-210
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 627
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日