講演名 2004/12/10
2004年IEC/TC56 Dependabilityワシントン会議速報 : 信頼性技術規格の審議状況(安全性,信頼性国際規格,保全性,信頼性一般)
益田 昭彦,
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抄録(和) IEC信頼性国際規格の国内審議体制の紹介を行う。次に2004年のWG1とWG2の春季会議およびIEC/ワシントン全体会議に出席したので、そこでの主な話題と主要な技術規格の審議経過を報告する。
抄録(英) This paper explains Japanese deliberation system for IEC reliability standards, and reports some reliability topics on the 2004 IEC/TC56 Washington General Meeting and relevant WG meetings.
キーワード(和) IEC/TC56 / dependability / ワシントン会議 / 信頼性規格
キーワード(英) IEC/TC56 / dependability / Washington General Meeting / Reliability Standards
資料番号 R2004-55,SSS2004-34
発行日

研究会情報
研究会 SSS
開催期間 2004/12/10(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Safety (SSS)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 2004年IEC/TC56 Dependabilityワシントン会議速報 : 信頼性技術規格の審議状況(安全性,信頼性国際規格,保全性,信頼性一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Brief Report on 2004 IEC/TC56 Washington General Meeting : Deliberation State on International Reliability Standards
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) IEC/TC56 / IEC/TC56
キーワード(2)(和/英) dependability / dependability
キーワード(3)(和/英) ワシントン会議 / Washington General Meeting
キーワード(4)(和/英) 信頼性規格 / Reliability Standards
第 1 著者 氏名(和/英) 益田 昭彦 / Akihiko MASUDA
第 1 著者 所属(和/英) 帝京科学大学理工学部
Dept. of Management System, Teikyo University of Science & Technology
発表年月日 2004/12/10
資料番号 R2004-55,SSS2004-34
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 529
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日