| 講演名 | 2005-05-12 レーリー散乱損失を低減した光ファイバの検討(光センサ, 一般) 大薗 和正, 姚 兵, 黒沢 芳宣, 齋藤 和也, 生嶋 明, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 光ファイバの損失要因であるレーリー散乱損失は密度ゆらぎと組成ゆらぎにより発生し、その内の密度ゆらぎについてはガラスが液体から固化する温度(仮想温度)に依存する。そこで、線引き中のファイバにアニール処理を行い、その処理時間と処理温度を用いてファイバの仮想温度を制御した。ファイバ仮想温度が1340℃となった光ファイバのレーリー散乱係数は0.86dB/km/nm^4となり、通常(処理なし)のファイバに比べ8%程度の低減が図れた。また、本ファイバの伝送損失は、波長1.31μmで0.299dB/km、波長1.57μmで0.170dB/kmと低損失な特性を確認した。 |
| 抄録(英) | The Rayleigh scattering which is dominant origin of optical loss in silica fibers is caused by density fluctuation and composition fluctuation. The density fluctuation is dependent on the temperature (Tf: fictive temperature) at which glass structure is the same as that of the supercooled liquid state. The fiber under drawing was annealed and Tf was controlled using annealing time and annealing temperature. When Tf was 1340 deg., the Rayleigh scattering coefficient was 0.86dB/km/nm^4. That value is lower than conventional fibers 8%. The optical loss of this fiber is confirmed with 0.299dB/km at 1.31μm and 0.170dB/km at 1.57μm respectively. |
| キーワード(和) | 光ファイバ / レーリー散乱 / 構造緩和 / 仮想温度 / アニール |
| キーワード(英) | Optical fiber / Rayleigh scattering / Structural relaxation / Fictive temperature / Anneal |
| 資料番号 | OFT2005-3 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OFT |
|---|---|
| 開催期間 | 2005/5/5(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optical Fiber Technology (OFT) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | レーリー散乱損失を低減した光ファイバの検討(光センサ, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on reducing the Rayleigh scattering loss in optical fibers |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光ファイバ / Optical fiber |
| キーワード(2)（和/英） | レーリー散乱 / Rayleigh scattering |
| キーワード(3)（和/英） | 構造緩和 / Structural relaxation |
| キーワード(4)（和/英） | 仮想温度 / Fictive temperature |
| キーワード(5)（和/英） | アニール / Anneal |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大薗 和正 / Kazumasa OSONO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日立電線株式会社アドバンス技術研究所 Advanced Technology Laboratories, Hitachi Cable, Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 姚 兵 / Bing YAO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日立電線株式会社アドバンス技術研究所 Advanced Technology Laboratories, Hitachi Cable, Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 黒沢 芳宣 / Yoshinori KUROSAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日立電線株式会社アドバンス技術研究所 Advanced Technology Laboratories, Hitachi Cable, Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 齋藤 和也 / Kazuya SAITO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 豊田工業大学 Toyota Technological Institute |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 生嶋 明 / Akira IKUSHIMA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 豊田工業大学 Toyota Technological Institute |
| 発表年月日 | 2005-05-12 |
| 資料番号 | OFT2005-3 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 38 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |