講演名 2005-03-04
PON におけるスプリッタ下部故障位置探索の為の光線路試験システムの試験波長設計
古敷谷 優介, 荒木 則幸, 泉田 史, 伊藤 文彦, 有居 正仁,
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抄録(和) 所外に光スプリッタを配置した光線路(PON)にて通信設備ビルから光パルス試験を行った場合, 光スプリッタによる分岐損失および光スプリッタ下部各線路からの戻り光の重畳により, 正確なOTDR波形を得る事が出来ない.そこで, ユーザ宅側からの光試験が考えられるが, 試験光を遮断するターミネーションフィルタの存在により既存の試験波長である1650nmでは光試験が出来ない.そこで, 本研究ではPONに対応した光線路試験システムおよび最適な試験波長設計について提案する.
抄録(英) This paper describes a new design for an optical fiber line testing system that employs bidirectional OTDR with two different wavelengths at branched fiber regions in PON and also presents U-band maintenance wavelengths allocation.
キーワード(和) 光線路試験システム
キーワード(英) Optical fiber line testing systems / OTDR / PON
資料番号 OFT2004-123
発行日

研究会情報
研究会 OFT
開催期間 2005/2/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optical Fiber Technology (OFT)
本文の言語 JPN
タイトル(和) PON におけるスプリッタ下部故障位置探索の為の光線路試験システムの試験波長設計
サブタイトル(和)
タイトル(英) Design of testing wavelength for optical fiber line testing system for PON
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 光線路試験システム / Optical fiber line testing systems
第 1 著者 氏名(和/英) 古敷谷 優介 / Yusuke KOSHIKIYA
第 1 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 荒木 則幸 / Noriyuki ARAKI
第 2 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 泉田 史 / Hisashi IZUMITA
第 3 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 伊藤 文彦 / Fumihiko ITO
第 4 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation
第 5 著者 氏名(和/英) 有居 正仁 / Masahito ARII
第 5 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation
発表年月日 2005-03-04
資料番号 OFT2004-123
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 700
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日