講演名 2004/8/13
65nm世代以降のVdd,Vthのスケーリング指針の新規提案(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
森藤 英治, 吉田 毅, 松田 聡, 山田 誠司, 松岡 史倫, 野口 達夫, 各務 正一,
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抄録(和) 65nm世代以降の電源電圧と閾値電圧のスケーリングの指針を示す。
抄録(英) We show new guideline of Vdd and Vth scaling for logic blocks and high density SRAM cell from low power dissipation viewpoint.
キーワード(和) 電源電圧 / 閾値電圧 / 低消費電力 / CMOS / SRAM / スケーリング
キーワード(英) Supply voltage / threshold voltage / low power consumption / CMOS / SRAM / scaling
資料番号 SDM2004-151,ICD2004-93
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2004/8/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 65nm世代以降のVdd,Vthのスケーリング指針の新規提案(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
サブタイトル(和)
タイトル(英) New guideline of Vdd and Vth for 65nm technology and beyond
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電源電圧 / Supply voltage
キーワード(2)(和/英) 閾値電圧 / threshold voltage
キーワード(3)(和/英) 低消費電力 / low power consumption
キーワード(4)(和/英) CMOS / CMOS
キーワード(5)(和/英) SRAM / SRAM
キーワード(6)(和/英) スケーリング / scaling
第 1 著者 氏名(和/英) 森藤 英治 / E. Morifuji
第 1 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 吉田 毅 / T. Yoshida
第 2 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 松田 聡 / S. Matsuda
第 3 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 山田 誠司 / S. Yamada
第 4 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
第 5 著者 氏名(和/英) 松岡 史倫 / F. Matsuoka
第 5 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
第 6 著者 氏名(和/英) 野口 達夫 / T. Noguchi
第 6 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
第 7 著者 氏名(和/英) 各務 正一 / M. Kakumu
第 7 著者 所属(和/英) 株式会社東芝セミコンダクタ社
System LSI Division, Semiconductor Company, TOSHIBA Corporation
発表年月日 2004/8/13
資料番号 SDM2004-151,ICD2004-93
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 251
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日