講演名 2004/8/13
ヘテロソース構造MOSFETにおけるチャネルへの高速電子注入(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
水野 智久, 杉山 直治, 手塚 勉, 守山 佳彦, 中払 周, 前田 辰郎, 高木 信一,
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抄録(和) ヘテロソース構造を有するMOSFET開発し,ソースか6チヤネルへの電子の高速注入による相互コンダクタンスGmの向上を実証した.チャネルに大きな電子親和力を有するひずみSiとSiGeソースのヘテロ面においては,伝導帯のバンドオフセットが生じ,ソースからの電子はこの余分なエネルギーを得てチャネルに高速注入される.今回,この高速電子注入によって,ヘテロMOSFETのGmが,ひずみSOI素子(SSOI)のGmに比べても,増大することが確認できた.
抄録(英)
キーワード(和) ヘテロジャンクション / ひずみSi / バンドオフセット / 高速電子注入
キーワード(英) heterojunction / source / band-offset / high velocity electron injection
資料番号 SDM2004-147,ICD2004-89
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2004/8/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ヘテロソース構造MOSFETにおけるチャネルへの高速電子注入(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
サブタイトル(和)
タイトル(英) High Velocity Electron Injection into Channel Region in MOSFETs with Heterojunction Source Structures
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ヘテロジャンクション / heterojunction
キーワード(2)(和/英) ひずみSi / source
キーワード(3)(和/英) バンドオフセット / band-offset
キーワード(4)(和/英) 高速電子注入 / high velocity electron injection
第 1 著者 氏名(和/英) 水野 智久 / Tomohisa MIZUNO
第 1 著者 所属(和/英) MIRAI-AIST:神奈川大学
MIRAI-AIST
第 2 著者 氏名(和/英) 杉山 直治 / Naoharu SUGIYAMA
第 2 著者 所属(和/英) MIRAI-ASET:東芝
MIRAI-ASET
第 3 著者 氏名(和/英) 手塚 勉 / Tsutomu TEZUKA
第 3 著者 所属(和/英) MIRAI-ASET:東芝
MIRAI-ASET
第 4 著者 氏名(和/英) 守山 佳彦 / Yoshihiko MORIYAMA
第 4 著者 所属(和/英) MIRAI-ASET:東芝
MIRAI-ASET
第 5 著者 氏名(和/英) 中払 周 / Shu NAKAHARAI
第 5 著者 所属(和/英) MIRAI-ASET:東芝
MIRAI-ASET
第 6 著者 氏名(和/英) 前田 辰郎 / Tatsuro MAEDA
第 6 著者 所属(和/英) MIRAI-AIST:産業技術総合研究所
MIRAI-AIST
第 7 著者 氏名(和/英) 高木 信一 / Shinichi TAKAGI
第 7 著者 所属(和/英) MIRAI-AIST:東京大学
MIRAI-AIST
発表年月日 2004/8/13
資料番号 SDM2004-147,ICD2004-89
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 251
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日