講演名 | 2004/8/13 ヘテロソース構造MOSFETにおけるチャネルへの高速電子注入(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力)) 水野 智久, 杉山 直治, 手塚 勉, 守山 佳彦, 中払 周, 前田 辰郎, 高木 信一, |
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抄録(和) | ヘテロソース構造を有するMOSFET開発し,ソースか6チヤネルへの電子の高速注入による相互コンダクタンスGmの向上を実証した.チャネルに大きな電子親和力を有するひずみSiとSiGeソースのヘテロ面においては,伝導帯のバンドオフセットが生じ,ソースからの電子はこの余分なエネルギーを得てチャネルに高速注入される.今回,この高速電子注入によって,ヘテロMOSFETのGmが,ひずみSOI素子(SSOI)のGmに比べても,増大することが確認できた. |
抄録(英) | |
キーワード(和) | ヘテロジャンクション / ひずみSi / バンドオフセット / 高速電子注入 |
キーワード(英) | heterojunction / source / band-offset / high velocity electron injection |
資料番号 | SDM2004-147,ICD2004-89 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 2004/8/13(から1日開催) |
開催地(和) | |
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テーマ(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | ヘテロソース構造MOSFETにおけるチャネルへの高速電子注入(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力)) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | High Velocity Electron Injection into Channel Region in MOSFETs with Heterojunction Source Structures |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ヘテロジャンクション / heterojunction |
キーワード(2)(和/英) | ひずみSi / source |
キーワード(3)(和/英) | バンドオフセット / band-offset |
キーワード(4)(和/英) | 高速電子注入 / high velocity electron injection |
第 1 著者 氏名(和/英) | 水野 智久 / Tomohisa MIZUNO |
第 1 著者 所属(和/英) | MIRAI-AIST:神奈川大学 MIRAI-AIST |
第 2 著者 氏名(和/英) | 杉山 直治 / Naoharu SUGIYAMA |
第 2 著者 所属(和/英) | MIRAI-ASET:東芝 MIRAI-ASET |
第 3 著者 氏名(和/英) | 手塚 勉 / Tsutomu TEZUKA |
第 3 著者 所属(和/英) | MIRAI-ASET:東芝 MIRAI-ASET |
第 4 著者 氏名(和/英) | 守山 佳彦 / Yoshihiko MORIYAMA |
第 4 著者 所属(和/英) | MIRAI-ASET:東芝 MIRAI-ASET |
第 5 著者 氏名(和/英) | 中払 周 / Shu NAKAHARAI |
第 5 著者 所属(和/英) | MIRAI-ASET:東芝 MIRAI-ASET |
第 6 著者 氏名(和/英) | 前田 辰郎 / Tatsuro MAEDA |
第 6 著者 所属(和/英) | MIRAI-AIST:産業技術総合研究所 MIRAI-AIST |
第 7 著者 氏名(和/英) | 高木 信一 / Shinichi TAKAGI |
第 7 著者 所属(和/英) | MIRAI-AIST:東京大学 MIRAI-AIST |
発表年月日 | 2004/8/13 |
資料番号 | SDM2004-147,ICD2004-89 |
巻番号(vol) | vol.104 |
号番号(no) | 251 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |