講演名 2004/8/13
高時間分解能を持つ伝播遅延時間ばらつきのOn-Chip測定回路(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
松本 高士,
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抄録(和) ロジリクゲート1段の伝播遅延時間(CMOS 90nmノード)を直接AC測定可能な回路を提案した。最小測定単位はfan-out 1のインバータ1段である。伝播遅延時間は、Delay-Locked Loop(DLL)のvoltage-controlled delay line(VCDL)の制御電圧に変換され、この手法によって高時間分解能(1ps)が達成された。回路は、90nm CMOSテクノロジによって作製され、測定によって動作を確認した。また、この回路はsub-100nmテクノロジでの設計自動化において重要なデータである、チップ内遅延時間ばらつきの測定に役立つ。
抄録(英) We propose a circuit that can measure the propagation delay of a logic circuit directly even for one fan-out 1 inverter of CMOS 90 nm node technology. We obtained high-resolution (1 ps) by converting the propagation delay to the control voltage of the voltage-controlled delay line (VCDL) in Delay-Locked Loop (DLL). The circuit was fabricated with 90 nm CMOS technology and we have verified the function. This circuit can be used for measuring within-chip and chip-to-chip variation that is important for design automation in sub-100nm technology.
キーワード(和) 伝播遅延時間 / DLL / 電圧サンプリング回路 / CMOS / Snb-100nm / チップ内ばらつき / 設計自動化 / DFM
キーワード(英) propagation delay / DLL / voltage sampler / CMOS / sub-100nm / within-chip variation / design automation / DFM
資料番号 SDM2004-140,ICD2004-82
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2004/8/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 高時間分解能を持つ伝播遅延時間ばらつきのOn-Chip測定回路(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
サブタイトル(和)
タイトル(英) High-Resolution On-Chip Propagation Delay Detector for Measuring Within-Chip and Chip-to-Chip Variation
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 伝播遅延時間 / propagation delay
キーワード(2)(和/英) DLL / DLL
キーワード(3)(和/英) 電圧サンプリング回路 / voltage sampler
キーワード(4)(和/英) CMOS / CMOS
キーワード(5)(和/英) Snb-100nm / sub-100nm
キーワード(6)(和/英) チップ内ばらつき / within-chip variation
キーワード(7)(和/英) 設計自動化 / design automation
キーワード(8)(和/英) DFM / DFM
第 1 著者 氏名(和/英) 松本 高士 / Takashi Matsumoto
第 1 著者 所属(和/英) 富士通研究所
Fujitsu Laboratories Ltd.
発表年月日 2004/8/13
資料番号 SDM2004-140,ICD2004-82
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 251
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日