講演名 2003/2/27
FET大信号モデルを用いたKu帯MMIC電力増幅器の温度補償ゲートバイアス回路の検討(移動通信ワークショップ「次世代ブロードバンド無線通信の実現に向けて」)
大塚 浩志, 山内 和久, 森 一富, 山中 宏治, 清家 弘光, 宇土元 純一, 池田 幸夫, 石田 修己,
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抄録(和) 近年,警戒管制用レーダーや衛星搭載用アンテナとしてAPAAの需要が高まぅている. APAAにおいて所望の特性を得るために,マイクロ波モジュールの特性が均一であることが必要であり,それを構成するMMICの特性が環境温度に対して均一であることが求められる.ここでは,温度特性を考慮したFET大信号モデルを用いてKu帯MMIC電力増幅器の温度補償ゲートバイアス回路の検討を行ったので報告する. 基本となる大信号モデルには温度特性を考慮でき,I-V特性が実測と良く一致するAngelovモデルを採用した.Angelovモデルの温度パラメータを抽出し,温度補償ゲートバイアス回路を設計した. 設計した温度補償ゲートバイアス回路は抵抗とダイオードから構成されており,ダイオードの温度特性を利用してゲート電圧を制御することで利得の温度変化を補償している.設計した温度補償ゲートバイアス回路をKu帯MM1C電力増幅器に適用した結果,計算と実測において利得の温度変化を抑圧できることを確認した.
抄録(英) A design method of a temperature compensation gate bias circuit for Ku-band power monolithic-microwave integrated-circuit (MMIC) power amplifiers by using a large signal FET model is presented. The large signal FET model is based on Angelov model, which accounts for temperature characteristics of an FET. A temperature compensation gate bias circuit, which is composed of a few diodes and a resistor, is designed and fabricated for a Ku-band power MMIC amplifier. The Gain variation of the fabricated amplifier has been improved from 3.0dB to 0.6dB in temperature range from -20℃ to +100℃. It is confirmed that a temperature compensation gate bias circuit can be designed by using the large signal FET model.
キーワード(和) マイクロ波 / 増幅器 / 大信号モデル / ダイオード
キーワード(英) microwave / amplifier / large-signal model / diode
資料番号 MoMuC2002-125,SST2002-100,A・P2002-199,RCS202-316,MW2002-207
発行日

研究会情報
研究会 MoMuC
開催期間 2003/2/27(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Mobile Multimedia Communications(MoMuC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) FET大信号モデルを用いたKu帯MMIC電力増幅器の温度補償ゲートバイアス回路の検討(移動通信ワークショップ「次世代ブロードバンド無線通信の実現に向けて」)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Study of a Temperature Compensation Gate Bias Circuit for Ku-band Power MMIC Amplifiers by Using a Large-Signal FET Model
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) マイクロ波 / microwave
キーワード(2)(和/英) 増幅器 / amplifier
キーワード(3)(和/英) 大信号モデル / large-signal model
キーワード(4)(和/英) ダイオード / diode
第 1 著者 氏名(和/英) 大塚 浩志 / Hiroshi Ohtsuka
第 1 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 山内 和久 / Kazuhisa Yamauchi
第 2 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 森 一富 / Kazutomi Mori
第 3 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 山中 宏治 / Koji Yamanaka
第 4 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 5 著者 氏名(和/英) 清家 弘光 / Hiromitsu Seike
第 5 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 6 著者 氏名(和/英) 宇土元 純一 / Junichi Udomoto
第 6 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 7 著者 氏名(和/英) 池田 幸夫 / Yukio Ikeda
第 7 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
第 8 著者 氏名(和/英) 石田 修己 / Osami Ishida
第 8 著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社
Mitsubishi Electric Corporation
発表年月日 2003/2/27
資料番号 MoMuC2002-125,SST2002-100,A・P2002-199,RCS202-316,MW2002-207
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 678
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
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