講演名 1999/2/5
陽電子消滅寿命法によるポリシランフィルム中の自由体積
葛西 正, 堀 史説, 大嶋 隆一郎, 岡 邦雄, 堂丸 隆祥,
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抄録(和) 陽電子寿命測定法は空体積型の欠陥に関する情報を抽出してくれる強力な実験方法である。今回はこの方法を用いて、さまざまな条件でポリシラン内部の自由空間体積を測定した。ポリシラン膜の配向処理と分子量変化そして温度変化による内部構造変化のそれぞれにおいて極めて興味深い結果が得られた。
抄録(英) A positron annihilation lifetime spectroscopy is a powerful method which allows us to obtain information concerning the free volume spaces in materials. By means of this experimental method, we measured the sizes of free volume spaces in polysilanes under various conditions. It was found that the sizes of free volume spaces in polysilane films strongly depended on the conditions where those films were prepared.
キーワード(和) ポリシラン / 陽電子 / 配向 / 分子量依存性 / 温度依存性
キーワード(英) polysilane / positron / orientation / molecular-weight dependence / thermochromism
資料番号 ED98-223
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 1999/2/5(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 陽電子消滅寿命法によるポリシランフィルム中の自由体積
サブタイトル(和)
タイトル(英) Free Volume in polysilane films measured by a positron annihilation lifetime spectroscopy
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ポリシラン / polysilane
キーワード(2)(和/英) 陽電子 / positron
キーワード(3)(和/英) 配向 / orientation
キーワード(4)(和/英) 分子量依存性 / molecular-weight dependence
キーワード(5)(和/英) 温度依存性 / thermochromism
第 1 著者 氏名(和/英) 葛西 正 / T. Kasai
第 1 著者 所属(和/英) 大阪府立大学 先端科学研究所
Research Institute for Advanced Science and Technology, Osaka Prefecture University
第 2 著者 氏名(和/英) 堀 史説 / F. Hori
第 2 著者 所属(和/英) 大阪府立大学 先端科学研究所
Research Institute for Advanced Science and Technology, Osaka Prefecture University
第 3 著者 氏名(和/英) 大嶋 隆一郎 / R. Oshime
第 3 著者 所属(和/英) 大阪府立大学 先端科学研究所
Research Institute for Advanced Science and Technology, Osaka Prefecture University
第 4 著者 氏名(和/英) 岡 邦雄 / K. Oka
第 4 著者 所属(和/英) 大阪府立大学 先端科学研究所
Research Institute for Advanced Science and Technology, Osaka Prefecture University
第 5 著者 氏名(和/英) 堂丸 隆祥 / T. Dohmaru
第 5 著者 所属(和/英) 大阪府立大学 先端科学研究所
Research Institute for Advanced Science and Technology, Osaka Prefecture University
発表年月日 1999/2/5
資料番号 ED98-223
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 578
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日