講演名 1995/10/24
Fault Tolerant Design of Poly-Si TFT LCD Panels
,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和)
抄録(英) We propose two novel methods of improving the yield of TFT LCD. One of the two is as follows. The panel is designed with redundancy, and the display area can be shifted to left or right and upward or downward by the signals from the controller so that the position of the display area may be selected, which enables the avoidance of the defects. The other is a method of preparation against the abnormal operation of the shift register. And this can be implemented using the signals from the controller without any special physical repair unlike the laser-cutting method.
キーワード(和)
キーワード(英) TFT LCD Driving circuits
資料番号 EID95-76
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 1995/10/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fault Tolerant Design of Poly-Si TFT LCD Panels
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / TFT LCD Driving circuits
第 1 著者 氏名(和/英) / B.D. Choi
第 1 著者 所属(和/英)
Dept. of Electronic Engineering Hanyang Univ.
発表年月日 1995/10/24
資料番号 EID95-76
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 336
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日