講演名 1998/7/24
A Low Operating Voltage(3V)Metal-Ferroelectric-Semiconductor(MFS)FET's Using LiNbO_3/Si(100)Structures For Nonvolatile Memory Application
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抄録(和)
抄録(英) N-channel metal-ferroelectric-semiconductor field-effect-transistors(MFSFET's)by using rapid thermal annealed LiNbO_3/Si(100)structures were fabricated and demonstrated nonvolatile memory operations of the MFSFET's. The estimated field-effect electron mobility and transconductance on a linear region of the fabricated FET were 600 cm^2/V・s and 0.16 mS/mm, respectively.The drain current of the "on"state was more than 4 orders of magnitude larger than the "off"state current at the same "read"gate voltage of 0.5V, which means the memory operation of the MFSFET. A write voltage as low as ±3V, which is applicable to low power integrated circuits, was used for polarization reversal.
キーワード(和)
キーワード(英) Ferroelectric film / LiNbO_3/Si(100)structure / MFSFET / nonvolatile memory / rapid thermal annealing
資料番号 SDM98-106,ICD98-105
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 1998/7/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 KOR
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Low Operating Voltage(3V)Metal-Ferroelectric-Semiconductor(MFS)FET's Using LiNbO_3/Si(100)Structures For Nonvolatile Memory Application
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / Ferroelectric film
第 1 著者 氏名(和/英) / Kwang-Ho Kim
第 1 著者 所属(和/英)
Department of Semiconductor Engineering, Cheongju University,
発表年月日 1998/7/24
資料番号 SDM98-106,ICD98-105
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 194
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日