| 講演名 | 1994/5/19 極超短波長X線回折法によるC(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの電子密度分布解析 岡村 富士夫, 雪野 健, 山本 一樹, 大嶋 健一, 木野 幸浩, |
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| 抄録(和) | 科学技術庁無機材質研究所で新たに開発した電子密度分布精密解析システムを用いて、C(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの単結晶試料について従来のX線より波長の遥かに短いWKα線(波長～0.02nm)による回折スペクトルを測定し、その結果に基づいて各物質中の電子密度分布の解析を行い、得られた結果から同システムの利用により電子密度分布解析の分解能を著しく向上できることが明らかになった。 |
| 抄録(英) | A novel experimental system for high resolution analysis of electron distribution was developed and applied suessfully for the cases of C(diamond), Si, Ge, Fe_3o_4 etc. |
| キーワード(和) | 電子密度分布 / ダングステンKα線 / ダイヤモンド / シリコン / ゲルマニウム / マグネタイト |
| キーワード(英) | electron distribution / high resolution / diamond / Si / Ge / magnetite |
| 資料番号 | CPM94-7 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 1994/5/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 極超短波長X線回折法によるC(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの電子密度分布解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Electron Distribution Analysis of C(diamond),Si,Ge,Fe_3O_4 etc. Using Uotra-short Wavelength X-rays |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電子密度分布 / electron distribution |
| キーワード(2)（和/英） | ダングステンKα線 / high resolution |
| キーワード(3)（和/英） | ダイヤモンド / diamond |
| キーワード(4)（和/英） | シリコン / Si |
| キーワード(5)（和/英） | ゲルマニウム / Ge |
| キーワード(6)（和/英） | マグネタイト / magnetite |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岡村 富士夫 / P.Okamura F |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 科学技術庁無機材質研究所 NIRIM |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 雪野 健 / Yukino K |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 科学技術庁無機材質研究所 NIRIM |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山本 一樹 / Yamamoto K |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 筑波大学 University of Tsukuba |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大嶋 健一 / Ohshima K |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 筑波大学 University of Tsukuba |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 木野 幸浩 / Kino Y |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 理学電気 Rigaku Co. |
| 発表年月日 | 1994/5/19 |
| 資料番号 | CPM94-7 |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 39 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |