| 講演名 | 1994/5/19 高エネルギーX線による蛍光X線分析 : 200kV高電圧W白色X線を用いた蛍光K線による重元素の蛍光X線分析 高橋 晴彦, 山本 一樹, 大嶋 健一, 岡村 富士夫, |
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| 抄録(和) | 科学技術庁無機質材質研究室内の超短波長フォトン電子密度分布精密解析システムにより、蛍光X線分析を行った。従来の蛍光X線分析では重元素(特にランタノイド以降)を分析する場合には、蛍光L線による測定が一般的である。それに対して本装置では、最大200kVまで電圧を掛けることが出来るので、重元素においても蛍光K線による測定が可能になった。そこで今回は重元素の蛍光K線による分析の有効性を示すと同時に測定手段や実際の測定例を簡潔に示したいと考えている。 |
| 抄録(英) | We have obtained the X-ray fluorescent spectra from heavy atoms using W-white rays excited with highly applied voltage at the NIRIM. The present reports shows more important information on a series of K-lines of spectra in heavy atoms. |
| キーワード(和) | 蛍光X線 / 特性X線 / ランタノイド / エネルギー分散型X線文光 / 半導体検出器 / 多重波高分析器 |
| キーワード(英) | fluorescence / lanthanoids / energy dispergive spectrometer / solid state ditector / multi channel analyser |
| 資料番号 | CPM94-3 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 1994/5/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高エネルギーX線による蛍光X線分析 : 200kV高電圧W白色X線を用いた蛍光K線による重元素の蛍光X線分析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | X-ray fluorescence analysis using high energy X-rays. -X-rya fluorescence analysisi for heavy atoms using W-shite X-ray exited by highly applied voltage. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 蛍光X線 / fluorescence |
| キーワード(2)（和/英） | 特性X線 / lanthanoids |
| キーワード(3)（和/英） | ランタノイド / energy dispergive spectrometer |
| キーワード(4)（和/英） | エネルギー分散型X線文光 / solid state ditector |
| キーワード(5)（和/英） | 半導体検出器 / multi channel analyser |
| キーワード(6)（和/英） | 多重波高分析器 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 晴彦 / Takahashi Y |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 筑波大学 University of Tsukuba |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山本 一樹 / Yamamoto K |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 筑波大学 University of Tsukuba |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 大嶋 健一 / Ohsima K |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 筑波大学 University of Tsukuba |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 岡村 富士夫 / P.Okamura F |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 無機質材質研究所 NIRIM |
| 発表年月日 | 1994/5/19 |
| 資料番号 | CPM94-3 |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 39 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | |