講演名 2001/7/19
ケルビンプローブ法による導電性高分子/電極界面の電子状態の検討
堀 圭児, 多田 和也, 小野田 光宣,
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抄録(和) 本研究では、大気中における導電性高分子/電極界面の電子状態について検討を試みた。各種電極材料上に導電性高分子を製膜したものを測定用試料とし、膜厚の違いによる試料表面のフェルミ準位(E_F)及び、イオン化ポテンシャル(IP)の変化を観察した。試料表面のE_Fの測定には、ケルビンプローブ法を利用し、IPの測定には、大気中光電子分光法を用いた。電極材料にAlを用いた場合、IPとE_Fの膜厚依存性に大きな違いが見られた。
抄録(英) In this study, the electronic state at the conducting polymer/electrode interface in air was investigated.The Fermi level(E_F)as well as the ionization potential(IP)at the surface of conducting polymer films coated on various substrates was observed as a function of film thickness.The E_F of the conducting polymer surface was estimated by Kelvin probe method, and the IP was estimated by atmospheric photoelectron spectroscopy. When Al was used as the electrode material, the dependence of the E_F on film thickness was much different from that of the IP.
キーワード(和) 導電性高分子 / 電子状態 / フェルミ準位 / ケルビンプローブ法
キーワード(英) conducting polymer / electronic state / Fermi level / Kelvin probe method
資料番号 OME2001-38
発行日

研究会情報
研究会 OME
開催期間 2001/7/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Organic Material Electronics (OME)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ケルビンプローブ法による導電性高分子/電極界面の電子状態の検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) Studies on electronic energy state at conducting polymer/electrode interfaces using Kelvin probe method
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 導電性高分子 / conducting polymer
キーワード(2)(和/英) 電子状態 / electronic state
キーワード(3)(和/英) フェルミ準位 / Fermi level
キーワード(4)(和/英) ケルビンプローブ法 / Kelvin probe method
第 1 著者 氏名(和/英) 堀 圭児 / Keiji Hori
第 1 著者 所属(和/英) 姫路工業大学工学部電気工学科
第 2 著者 氏名(和/英) 多田 和也 / Kazuya Tada
第 2 著者 所属(和/英) 姫路工業大学工学部電気工学科
Department of Electrical Engineering, Himeji Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 小野田 光宣 / Mitsuyoshi Onoda
第 3 著者 所属(和/英) 姫路工業大学工学部電気工学科
Department of Electrical Engineering, Himeji Institute of Technology
発表年月日 2001/7/19
資料番号 OME2001-38
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 226
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日