| 講演名 | 2000/6/9 OME2000-28 有機ELに用いられる材料のキャリヤ移動度 安田 剛, 池田 寿雄, 筒井 哲夫, |
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| 抄録(和) | 有機ELに用いられる材料のキャリヤ移動度をTime-of-Flight(TOF)法で測定した。ヒドロキシルフェニルベンズオキサゾール亜鉛錯体(ZnPBO)の配位子のπ共役系を増大させたときの影響は電子移動度には見られず、正孔移動度のみに大きな影響を与え、正孔移動度が約1桁上昇した。また、キャリヤ移動度における不純物の影響を調べるために、アルミキノリノール錯体(Alq)に金属Mg等をドープして、その電子移動度変化を調べたところ、電子移動度が数桁上昇した。しかしながら、MgをドープしたAlqを用いた有機EL素子の電流密度の増加は観測されなかった。これよりTOF法で求めたキャリヤ移動度を、有機ELの特性評価に用いることに疑問点を残す結果となった。 |
| 抄録(英) | Carrier mobility in organic material for light emitting diode was measured using Time-of-Flight technique. When the π-conjugation of the ligand in ZnPBO was extended, the change was not appeared for the electron mobility but the hole mobility was promoted by about one order. And for the investigation of influence on the impurity for carrier mobility, we measured Mg-doped Alq sample. The result was that the electron mobility was higher than that of pure Alq. We also prepared the EL devices using Mg-doped Alq. But the current density was not increased. These indicated a possibility that the carrier mobility measured by TOF technique was not applied to EL characteristic. |
| キーワード(和) | 有機EL / 金属錯体 / Time-of-Flight法 / キャリヤ移動度 |
| キーワード(英) | organic light emitting diode / metal complex / Time-of-Flight technique / carrier mobility |
| 資料番号 | OME2000-28 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2000/6/9(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | OME2000-28 有機ELに用いられる材料のキャリヤ移動度 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Carrier mobility in organic material for light emitting diode |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 有機EL / organic light emitting diode |
| キーワード(2)（和/英） | 金属錯体 / metal complex |
| キーワード(3)（和/英） | Time-of-Flight法 / Time-of-Flight technique |
| キーワード(4)（和/英） | キャリヤ移動度 / carrier mobility |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 安田 剛 / Takeshi Yasuda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院総合理工学研究科 Department of Applied Science for Electronics and Materials, Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 池田 寿雄 / Hisao Ikeda |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院総合理工学研究科 Department of Applied Science for Electronics and Materials, Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 筒井 哲夫 / Tetsuo Tsutsui |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院総合理工学研究科 Department of Applied Science for Electronics and Materials, Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 発表年月日 | 2000/6/9 |
| 資料番号 | OME2000-28 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 111 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |