| 講演名 | 1999/9/21 エネルギー分散型表面回折法による無機・有機薄膜の構造・配向解析 石田 謙司, 堀内 俊寿, 松重 和美, |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | 表面回折 / 全反射 / エネルギー分散型 / エピタキシャル成長 / ポリシラン |
| キーワード(英) | Surface Diffraction / Total Reflection / Energy Dispersive / Epitaxial growth / polysilane |
| 資料番号 | OME99-83 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 1999/9/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | エネルギー分散型表面回折法による無機・有機薄膜の構造・配向解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Structural Characterization of Inorganic and Organic Thin Films by Energy Dispersive Grazing Incidence X-ray Analysis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 表面回折 / Surface Diffraction |
| キーワード(2)（和/英） | 全反射 / Total Reflection |
| キーワード(3)（和/英） | エネルギー分散型 / Energy Dispersive |
| キーワード(4)（和/英） | エピタキシャル成長 / Epitaxial growth |
| キーワード(5)（和/英） | ポリシラン / polysilane |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 石田 謙司 / K. Ishida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院工学研究科電子物性工学専攻 Department of Electronic Science and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyoto University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 堀内 俊寿 / T. Horiuchi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院工学研究科電子物性工学専攻 Department of Electronic Science and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyoto University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松重 和美 / K. Matsushige |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院工学研究科電子物性工学専攻 Department of Electronic Science and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyoto University |
| 発表年月日 | 1999/9/21 |
| 資料番号 | OME99-83 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 319 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |