| 講演名 | 1998/7/3 表面プラズモン励起による有機超薄膜からの光放射特性 青木 裕介, 江部 貴明, 新保 一成, 加藤 景三, 金子 双男, 若松 孝, |
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| 抄録(和) | Ag薄膜、およびAg薄膜上に積層したアラキジン酸C20LB膜試料について、表面プラズモン励起を利用して散乱光を高感度に測定した。散乱光の角度スペクトルを、金属/LB膜、LB膜/空気各界面の凹凸による影響を考慮して解析することにより、C20LB膜の表面凹凸を評価した。その結果、累積層数の増加にしたがい、LB膜表面の凹凸が、変化していることが観察された。また、同試料について、原子間力顕微鏡で表面観察を行った。その結果、層数増加により、表面粗さが増していることが観察された。これは、散乱光解析により得られた表面凹凸パラメータの変化と同じ変化の傾向を示していた。 |
| 抄録(英) | Scattered light properties from Ag thin films and arachidic acid(C20)Langmuir-Blodgett(LB)films on the Ag thin films were investigated to evaluate the surface roughness of these films utilizing the excited surface plasmon in the attenuated total reflectivity(ATR)configuration. The surface roughness of the films was estimated by the angular distribution of the scattered light.The results showed that the structure and the surface roughness of the C20 LB films changed with the number of the monolayers.Surface roughnesses were also evaluated by AFM measurements. |
| キーワード(和) | 散乱光 / 表面凹凸 / 表面プラズモン / アラキジン酸LB超薄膜 |
| キーワード(英) | scattered light / surface roughness / surface plasmon / arachidic acid LB ultrathin film |
| 資料番号 | US98-31,EMD98-23,CPM98-55,OME98-53 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 1998/7/3(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 表面プラズモン励起による有機超薄膜からの光放射特性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Light Emission from Organic Ultrathin Films on Metal Films due to Excited Surface Plasmon at the Interface |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 散乱光 / scattered light |
| キーワード(2)（和/英） | 表面凹凸 / surface roughness |
| キーワード(3)（和/英） | 表面プラズモン / surface plasmon |
| キーワード(4)（和/英） | アラキジン酸LB超薄膜 / arachidic acid LB ultrathin film |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 青木 裕介 / Yusuke Aoki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 江部 貴明 / Takaaki Ebe |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 新保 一成 / Kazunari Shinbo |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部電気電子工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 加藤 景三 / Keizo Kato |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 金子 双男 / Futao Kaneko |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部電気電子工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 若松 孝 / Takashi Wakamatsu |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 茨城工業高等専門高校電気工学科 Department of Electrical Engineering, Ibaraki National College of Technology |
| 発表年月日 | 1998/7/3 |
| 資料番号 | US98-31,EMD98-23,CPM98-55,OME98-53 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 164 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |