講演名 1998/6/26
Self-assembly液晶配向膜の吸着過程の全反射減衰法による評価
山形 滋徳, 馬場 暁, 古川 智博, 新保 一成, 加藤 景三, 金子 双男, 若松 孝,
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抄録(和) 液晶配向膜としての応用が考えられる自己組織化薄膜の水溶液中からの吸着過程について、全反射減衰(ATR)法を用いて評価した。ATR法は、金属薄膜の界面で表面プラズモンポラリトン(SPP)を共鳴励起し、その時の反射光を検出するものである。この手法では、水溶液からの吸着現象もその場観察することが可能である。測定の結果、吸着の 1, 2 層目では吸着が安定するまでに8分以上を要するが、3 層目以降ではより短い時間で吸着が安定することがわかった。また、陰イオン性の PSS では層数の増加で一層あたりの膜厚が大きくなっていくが、陽イオン性の PAH では小さくなる現象も観測された。
抄録(英) Adsorption processes of self-assembled films on Al evaporated films have evaluated using the Attenuated Total Reflection (ATR) method. Two kinds of non-conjugated polyelectrolytes, i. e. PSS and PAH were used for the film deposition. The ATR measurement showed that adsorption of these monolayers were changing with time. The thickness of the PSS monolayers on the Al films in the cell gradually increased with repetition of the deposition. On the contrary, thickness of the PAH monolayers decreased with the deposition cycles. Furthermore, the film thickness of each monolayers depended on the number of the layers.
キーワード(和) 自己組織化(self-assembly)法 / 全反射減衰(ATR)法 / 表面プラズモンポラリトン(SPP) / ポリアリルアミン塩酸塩(PAH) / ポリスチレンスルホン酸ナトリウム塩(PSS)
キーワード(英) Self-assembly method / Attenuated Total Reflection method / Surface Plasmon Polariton(SPP) / Poly-allylamine / Poly-styrenesulfonate
資料番号 CPM98-38,OME98-36
発行日

研究会情報
研究会 OME
開催期間 1998/6/26(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Organic Material Electronics (OME)
本文の言語 JPN
タイトル(和) Self-assembly液晶配向膜の吸着過程の全反射減衰法による評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Evaluation of Adsorption Processes of Self-assembled Films for Liquid Crystal Aligning Layers Using the Attenuated Total Reflection Method
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 自己組織化(self-assembly)法 / Self-assembly method
キーワード(2)(和/英) 全反射減衰(ATR)法 / Attenuated Total Reflection method
キーワード(3)(和/英) 表面プラズモンポラリトン(SPP) / Surface Plasmon Polariton(SPP)
キーワード(4)(和/英) ポリアリルアミン塩酸塩(PAH) / Poly-allylamine
キーワード(5)(和/英) ポリスチレンスルホン酸ナトリウム塩(PSS) / Poly-styrenesulfonate
第 1 著者 氏名(和/英) 山形 滋徳 / S. Yamagata
第 1 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University
第 2 著者 氏名(和/英) 馬場 暁 / A. Baba
第 2 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University
第 3 著者 氏名(和/英) 古川 智博 / T. Furukawa
第 3 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University
第 4 著者 氏名(和/英) 新保 一成 / K. Shinbo
第 4 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University
第 5 著者 氏名(和/英) 加藤 景三 / K. Kato
第 5 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University
第 6 著者 氏名(和/英) 金子 双男 / F. Kaneko
第 6 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Niigata University
第 7 著者 氏名(和/英) 若松 孝 / T. Wakamatsu
第 7 著者 所属(和/英) 茨城工業高等専門学校電気工学科
Department of Electronic and Information Engineering, Ibaraki National College of Technology
発表年月日 1998/6/26
資料番号 CPM98-38,OME98-36
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 155
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日