| 講演名 | 1998/5/29 導電性高分子を用いた高密度基板検査プローブの開発 板垣 洋輔, 佐藤 正春, 久住 肇, |
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| 抄録(和) | 導電性高分子ポリピロールを用いた高密度回路基板検査プローブを、潜像形成した感光性樹脂媒体中でパターン形成とピロールの酸化カチオン重合を同時に行う方法で作製した。得られた検査プローブはアクリル樹脂中に導電性ポリピロールが分布した構成であり、形状は直径80μm、高さ200μmの円柱状であった。また、プローブの電気抵抗は200kΩであり、その高さの±20%までの弾性変形が可能であった。このため、得られた検査プローブはパッド間隔80μmの高密度プリント配線板の検査プローブに利用できる。本研究では感光性樹脂媒体中でのピロールの重合とパターン形成について検討した結果を報告する。 |
| 抄録(英) | A contact probes for an error analysis of high density printed wiring boards utilizing a conducting polypyrrole complex have been prepared with the direct polymerization of pyrrole in a photosensitive resin matrix. The cylindrically formed complexes with 80μm diameter and 200μm high demonstrates the sufficiently low resistance of 200kΩ. Furthermore, they show the reversible deformation with compressed stress up to 20% of the initial length. These results indicate that the patterned polypyrrole complex should be useful as the probes for the high density printed wiring boards. |
| キーワード(和) | 導電性高分子 / ポリピロール / プリント配線板 / 感光性樹脂 / 酸化重合 / パターン形成 |
| キーワード(英) | Conducting polymer / Polypyrrole / Contact pin / High density printed wiring board |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 1998/5/29(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 導電性高分子を用いた高密度基板検査プローブの開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Patterned Polypyrrole Complex of Contact Probe for High Density Printed Wiring Boards |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 導電性高分子 / Conducting polymer |
| キーワード(2)（和/英） | ポリピロール / Polypyrrole |
| キーワード(3)（和/英） | プリント配線板 / Contact pin |
| キーワード(4)（和/英） | 感光性樹脂 / High density printed wiring board |
| キーワード(5)（和/英） | 酸化重合 |
| キーワード(6)（和/英） | パターン形成 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 板垣 洋輔 / Yosuke ITAGAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NEC, デバイス分析評価技術センター Analysis and Evaluation Technology Center., NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 佐藤 正春 / Masaharu SATOH |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NEC, 機能エレクトロニクス研究所 Functional Devices Res. Labs., NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久住 肇 / Hajime KUZUMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NEC, デバイス分析評価技術センター Analysis and Evaluation Technology Center., NEC Corporation |
| 発表年月日 | 1998/5/29 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 92 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |