| 講演名 | 1996/7/25 走査型プローブ顕微鏡を用いた有機超薄膜の局所物性評価 小澤 勝己, 国吉 繁一, 工藤 一浩, 田中 國昭, |
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| 抄録(和) | 走査型プローブ顕微鏡は、有機超薄膜の表面形状の観察のみでなく局所領域の電気的物性の測定が行える点からも注目されている。特に、走査型トンネル分光法(STS)は試料の局所状態密度が得られる測定法であり、通常探針として一様な電子状態を持つ金属が使用される。一方、半導体探針を使用した場合得られるトンネルスペクトルは探針の電子状態を反映すると考えられ、様々な応用が考えられる。さらに、走査型トンネル顕微鏡(STM)と併用した非弾性電子トンネルスペクトロスコピーは、局所領域での分子振動モードを検出できる。本報告では、これらの基礎特性と高密度記録媒体への応用について述べる。 |
| 抄録(英) | Scanning probe microscope can be applied to measure not only the surface topography but also the local area characterization of organic ultra thin films. Scanning tunneling spectoroscopy (STS) is a useful method to get the local density of states of the sample. Tunneling spectra will change using a semiconductor tip and inelastic electron tunneling spectroscopy (IETS) using scanning tunneling microscope (STM) will provide the electronic states and molecular vibrational mode. We report its basic results and application to high density recording system. |
| キーワード(和) | 走査型プローブ顕微鏡 / STM / STS / 非弾性トンネルスペクトロスコピー |
| キーワード(英) | scanning probe microscope / STM / STS / inelastic electron tunneling spectroscopy |
| 資料番号 | OME96-40 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 1996/7/25(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 走査型プローブ顕微鏡を用いた有機超薄膜の局所物性評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Local area characterization of organic ultra thin films using scanning probe microscope |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 走査型プローブ顕微鏡 / scanning probe microscope |
| キーワード(2)（和/英） | STM / STM |
| キーワード(3)（和/英） | STS / STS |
| キーワード(4)（和/英） | 非弾性トンネルスペクトロスコピー / inelastic electron tunneling spectroscopy |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小澤 勝己 / Katsumi OZAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千葉大学 工学部 電気電子工学科 Department of Electrical and Electronics Engineering, Chiba University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 国吉 繁一 / Shigekazu KUNIYOSHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉大学 工学部 電気電子工学科 Department of Electrical and Electronics Engineering, Chiba University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 工藤 一浩 / Kazuhiro KUDO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 千葉大学 工学部 電気電子工学科 Department of Electrical and Electronics Engineering, Chiba University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 田中 國昭 / Kuniaki TANAKA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 千葉大学 工学部 電気電子工学科 Department of Electrical and Electronics Engineering, Chiba University |
| 発表年月日 | 1996/7/25 |
| 資料番号 | OME96-40 |
| 巻番号（vol） | vol.96 |
| 号番号（no） | 195 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |