| 講演名 | 2001/9/20 MOSFETフリッカ雑音のばらつきのバイアス依存性 園田 賢一郎, 谷沢 元昭, 永久 克巳, 石川 清志, 熊本 敏夫, 河野 浩之, 犬石 昌秀, 井上 靖朗, |
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| 抄録(和) | MOSFETのフリッカ雑音のばらつきのバイアス依存性を, MOSFETのチャネル内の電子濃度分布を用いてモデル化した.このモデルを用いることで, 飽和領域でのばらつきの増加を説明できることを確認した.さらに, 飽和領域でのばらつきはゲート電圧に依存し, 飽和領域でのフリッカ雑音のばらつきは線形領域での値の最大2.5倍になることも, このモデルで説明できる. |
| 抄録(英) | Drain and gate bias dependent fluctuations of flicker noise of MOSFETs are explained in terms of carrier concentration distributions in a MOSFET channel. A proposed model well describes the increase of the fluctuation in the saturation region of operation. In addition, the gate bias dependence of the fluctuation in the saturation region can also be calculated using the model. Our model predicts that for any gate voltage change, the fluctuation in the saturation region will be 2.5 times that in the linear region. |
| キーワード(和) | フリッカ雑音 / 1/ƒ雑音 / MOSFET / アナログ / RF |
| キーワード(英) | flicker noise / 1/ƒ noise / MOSFET / analog / RF |
| 資料番号 | VLD2001-70,SDM2001-144 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2001/9/20(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | MOSFETフリッカ雑音のばらつきのバイアス依存性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Modeling of Bias Dependent Fluctuations of Flicker Noise of MOSFETs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | フリッカ雑音 / flicker noise |
| キーワード(2)（和/英） | 1/ƒ雑音 / 1/ƒ noise |
| キーワード(3)（和/英） | MOSFET / MOSFET |
| キーワード(4)（和/英） | アナログ / analog |
| キーワード(5)（和/英） | RF / RF |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 園田 賢一郎 / Ken'ichiro SONODA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corp |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 谷沢 元昭 / Motoaki TANIZAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corp |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 永久 克巳 / Katsumi EIKYU |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corp |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石川 清志 / Kiyoshi ISHIKAWA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corp |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 熊本 敏夫 / Toshio KUMAMOTO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)システムLSI事業統括部 System LSI Div., Mitsubishi Electric Corp |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 河野 浩之 / Hiroyuki KOUNO |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)システムLSI事業統括部 System LSI Div., Mitsubishi Electric Corp |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 犬石 昌秀 / Masahide INUISHI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corp |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 井上 靖朗 / Yasuo INOUE |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corp |
| 発表年月日 | 2001/9/20 |
| 資料番号 | VLD2001-70,SDM2001-144 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 318 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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