講演名 | 2000/11/23 Analyzing Path Delay Fault Testability of RTL Data Paths:A Non-Scan Approach , |
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抄録(和) | |
抄録(英) | In this paper we analyze the testability of RTL data paths targeting all detectable path delay faults. The concept of RTL path is introduced. Based on this concept a definition for2-pattern(path delay fault)testable data path is developed. Some necessary and sufficient conditions to support the propagation of 2-pattern vectors for two or more control paths are pointed out. A graph approach of our analysis is also presented. |
キーワード(和) | |
キーワード(英) | Path delay faults / RTL data paths / Testability / 2-pattern test / control/observation paths |
資料番号 | VLD2000-106,ICD2000-163,FTS2000-71 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | VLD |
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開催期間 | 2000/11/23(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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本文の言語 | ENG |
タイトル(和) | |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Analyzing Path Delay Fault Testability of RTL Data Paths:A Non-Scan Approach |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | / Path delay faults |
第 1 著者 氏名(和/英) | / Md. Altaf-UI-Amin |
第 1 著者 所属(和/英) | Graduate School of Information Science Nara Institute of Science and Technology |
発表年月日 | 2000/11/23 |
資料番号 | VLD2000-106,ICD2000-163,FTS2000-71 |
巻番号(vol) | vol.100 |
号番号(no) | 473 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |