| 講演名 | 2000/9/14 プロセス変動に起因した回路特性変動のワーストケース解析手法 山口 哲哉, |
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| 抄録(和) | 高品質なLSI設計を実現する上で、ロバスト回路設計手法の必要性が高まっている。スペックに対してマージンのある回路設計を実現する為には、回路設計段階においてプロセス変動の影響を考慮し、プロセス変動に起因する回路特性変動を高精度に予測する必要がある。回路特性変動の高精度な予測方法として、従来から回路シミュレータによるモンテカルロ解析が用いられている。しかし対象とする回路規模が大規模の場合、従来型あるいはRSMによるモンテカルロ解析は時間効率の面で非実用的である。そのためワーストケース解析により、回路特性変動の上下限値(Worst/Best)を求める必要が生じる。ここではTCADベースの高速かつ高精度なワーストケース解析手法を提示する。 |
| 抄録(英) | In order to realize robust circuit design, it is important to estimate circuit characteristics variations which are induced by process fluctuations in high-accuracy. Monte Carlo analysis by using circuit simulator is a basic method to calculate the variations.However, Monte Carlo analysis(e.g.Conventional-MC or RSM)is time inefficient especially in the case of large scale circuit. Therefore worst-case analysis is needed under this situation. Here, we propose a method of TCAD based high-speed and high-accuracy worst-case analysis for large scale circuit. |
| キーワード(和) | モンテカルロ解析 / RSM(応答曲面法) / ワーストケース解析 / プロセス変動 / TCAD |
| キーワード(英) | Monte Carlo analysis / RSM / worst-case analysis / process fluctuations / TCAD |
| 資料番号 | VLD2000-54,SDM2000-127 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2000/9/14(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | プロセス変動に起因した回路特性変動のワーストケース解析手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method of Worst-Case Analysis for Process Fluctuation induced Circuit Characteristics Varistions |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | モンテカルロ解析 / Monte Carlo analysis |
| キーワード(2)（和/英） | RSM(応答曲面法) / RSM |
| キーワード(3)（和/英） | ワーストケース解析 / worst-case analysis |
| キーワード(4)（和/英） | プロセス変動 / process fluctuations |
| キーワード(5)（和/英） | TCAD / TCAD |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山口 哲哉 / Tetsuya Yamaguchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東芝セミコンダクター社システムLSI事業部 Toshiba Corporation Semiconductor Company System LSI Design Division |
| 発表年月日 | 2000/9/14 |
| 資料番号 | VLD2000-54,SDM2000-127 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 293 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |